申请/专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

申请日：2024-02-07

公开（公告）日：2024-03-19

公开（公告）号：CN117723157A

主分类号：G01J5/48

分类号：G01J5/48;G06T7/90

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.05#实质审查的生效;2024.03.19#公开

摘要：本发明涉及点目标红外辐射测量技术领域，尤其涉及一种点目标红外辐射测量方法。包括：S1：利用中长波红外成像系统对远距离的点目标进行红外成像，分别获得中波红外图像和长波红外图像；S2：对中波红外图像和长波红外图像进行处理，获得中波红外辐射亮度和长波红外辐射亮度的计算公式；S3：对中波红外辐射亮度和长波红外辐射亮度的计算公式进行比值处理；S4：根据普朗克公式计算点目标的温度和红外辐射亮度。本发明能够在点目标的面积未知的情况下，对点目标的红外辐射亮度和温度进行有效测量，从而提高了红外辐射测量技术在靶场的适用性。

主权项：1.一种点目标红外辐射测量方法，利用标定过的中长波红外成像系统实现，其特征在于，具体包括如下步骤：S1：利用所述中长波红外成像系统对远距离的点目标进行红外成像，分别获得中波红外图像和长波红外图像；S2：对所述中波红外图像和所述长波红外图像进行灰度提取，获得中波红外辐射亮度和长波红外辐射亮度的计算公式： （1）； （2）；其中，为所述点目标的红外辐射亮度，LTb为所述点目标的周围环境的红外辐射亮度，R与B分别为对所述中长波红外成像系统进行定标的增益系数和偏置系数，与Lpath分别为测量路径的大气透过率与程辐射，ε为点目标在成像波段的平均发射率，Gt为所述点目标的总灰度，Ad为所述中长波红外成像系统的探测器的像元面积，S为所述点目标与所述中长波红外成像系统的距离，A为所述点目标在观测方向的投影面积，f为所述中长波红外成像系统的焦距，下标m为中波，下标为长波；S3：对式（1）-式（2）进行比值处理，获得下式： （3）；S4：根据普朗克公式，并结合式（3）通过下式计算所述点目标的温度和红外辐射亮度： （4）； （5）；其中，[λ1，λ2]为所述中长波红外成像系统的探测器响应波段范围，Tt为所述点目标的温度，c1为第一辐射常数，c1＝3.7415±0.0003×108W·m-2·μm4，c2为第二辐射常数，c2＝1.4388±0.0002×104μm·K。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 点目标红外辐射测量方法

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