申请/专利权人：深圳市晶存科技有限公司

申请日：2023-03-10

公开（公告）日：2024-03-19

公开（公告）号：CN116298799B

主分类号：G01R31/28

分类号：G01R31/28;G08C17/02

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.03.19#授权;2023.07.11#实质审查的生效;2023.06.23#公开

摘要：本申请提供了芯片测试多界面联动显示方法及系统，属于芯片测试技术领域。第一终端设备上的方法包括：显示第一测试界面，其中，第一测试界面实时显示有芯片测试的初始测试内容，初始测试内容包括多个不同测试环境下的测试信息；响应于联动内容选择操作，在第一测试界面中显示目标测试内容，并在第二终端设备的第二测试界面上显示目标测试内容，其中，目标测试内容为从初始测试内容中选择的若干项测试信息；其中，第二终端设备，是服务器在接收到目标测试内容后，根据目标测试内容确定的对应目标测试环境下的设备；目标测试内容由第一终端设备实时通过本地网络发送给服务器，再由服务器发送给第二终端设备。本申请提高了芯片测试的效率和质量。

主权项：1.一种芯片测试多界面联动显示方法，应用于第一终端设备，其特征在于，所述方法包括：显示第一测试界面，其中，所述第一测试界面实时显示有芯片测试的初始测试内容，所述初始测试内容包括多个不同测试环境下的测试信息；响应于联动内容选择操作，在第一测试界面中显示目标测试内容，并在第二终端设备的第二测试界面上显示所述目标测试内容，其中，所述目标测试内容为从所述初始测试内容中选择的若干项所述测试信息；其中，所述第二终端设备，是服务器在接收到所述目标测试内容后，根据所述目标测试内容确定的对应目标测试环境下的设备；所述目标测试内容由所述第一终端设备实时通过本地网络发送给所述服务器，再由所述服务器发送给所述第二终端设备；所述第一终端设备是位于远端的设备，所述第二终端设备是位于芯片测试现场的设备。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 深圳市晶存科技有限公司 芯片测试多界面联动显示方法及系统

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