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【发明授权】一种高动态范围复杂曲面测量方法、系统及存储介质_香港理工大学深圳研究院_202111016903.5 

申请/专利权人:香港理工大学深圳研究院

申请日:2021-08-31

公开(公告)日:2024-03-19

公开(公告)号:CN113776458B

主分类号:G01B11/24

分类号:G01B11/24;G01B11/00

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.03.19#授权;2021.12.28#实质审查的生效;2021.12.10#公开

摘要:本发明公开了一种高动态范围复杂曲面测量方法、系统及存储介质,方法应用于多传感器测量仪,多传感器测量仪包括若干位置传感器和视觉传感器,通过将被测物体的表面分为若干局部区域,从若干传感器中确定每一局部区域的目标位置传感器;根据目标位置传感器对每一局部区域进行点云检测,得到被测物体的表面的点云数据;对视觉传感器进行调节,根据调节后的视觉传感器对每一局部区域的表面形貌进行测量,得到被测物体的表面形貌信息。本发明通过对被测物体的表面进行分区域处理,根据每个区域的特征选择多传感器测量仪中不同的传感器进行测量,实现了对工件表面的精密测量,解决了目前采用多传感器测量仪对工件形貌进行检测,精度范围不高的问题。

主权项:1.一种高动态范围复杂曲面测量方法,所述方法应用于多传感器测量仪,其特征在于,所述多传感器测量仪包括若干位置传感器和视觉传感器,所述方法包括:将被测物体的表面分为若干局部区域,确定每一所述局部区域对应的梯度差;当所述梯度差小于或者等于预设梯度阈值时,将激光传感器作为目标位置传感器;当所述梯度差大于所述预设梯度阈值时,将探针作为目标位置传感器;根据所述目标位置传感器一一对应地对每一所述局部区域进行点云检测,得到若干局部点云数据;将若干所述局部点云数据转换至统一坐标系下,得到若干标准点云数据;分别对若干所述标准点云数据的密度进行调节,对调节后的若干所述标准点云进行拼接,得到所述被测物体的表面对应的点云数据;其中,对各所述标准点云数据的密度进行调节和拼接的方法包括:确定每一所述标准点云数据对应的点云类型,其中,所述点云类型包括稠密点云数据和稀疏点云数据;分别对稠密点云数据和稀疏点云数据使用高斯过程进行处理,得到基于高斯过程的Z方向的第一位置数据和第二位置数据,其中,所述第一位置数据与所述稠密点云数据对应,所述第二位置数据与所述稀疏点云数据对应;根据所采集的运动传感器数据对传感器的姿态进行求解得到传感器的X,Y两个方向的位置序列;根据传感器的X,Y两个方向的位置序列与所述第一位置数据,得到被测物体表面的稠密三维点云数据,对所述稠密三维点云数据进行离散处理,得到第一点云数据;根据传感器的X,Y两个方向的位置序列与所述第二位置数据,得到被测物体表面的稀疏三维点云数据,对稀疏三维点云数据进行插补处理,得到第二点云数据;对所述第一点云数据和所述第二点云数据进行拼接,得到均匀的被测物体的表面的点云数据;对所述视觉传感器进行调节,根据调节后的所述视觉传感器分别对每一所述局部区域的表面形貌进行测量,得到所述被测物体对应的表面形貌信息。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 香港理工大学深圳研究院 一种高动态范围复杂曲面测量方法、系统及存储介质

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