申请/专利权人：无锡芯光互连技术研究院有限公司

申请日：2023-11-06

公开（公告）日：2024-03-22

公开（公告）号：CN117740329A

主分类号：G01M11/02

分类号：G01M11/02

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.09#实质审查的生效;2024.03.22#公开

摘要：本发明公开了一种改进的光功率分配器插入损耗测试方法及装置，涉及硅光子器件测试领域，其技术方案要点是：在级联的每个光功率分配器中，分别选取一个具有相同光功率分配比值的空闲光输出端作为检测端作为检测端，使上述检测端依次与多个光电探测器耦合，控制入射光进入第一级光功率分配器的光输入端，读取第一光电探测器至第M光电探测器探测到的光电流值，并求取数据点，对所有数据点执行线性拟合，得到最佳拟合线性线；第二转换模块读取最佳拟合线性线的斜率和级联输出端的光功率分配比值，以求取插入损耗。本发明具有插入损耗的测试误差小、效率高、精度高的优点。

主权项：1.一种改进的光功率分配器插入损耗测试方法，所测试的光功率分配器为1xN的光功率分配器，并使M个相同的所述光功率分配器级联，其特征在于，将前级光功率分配器的光功率分配比值最大的光输出端作为级联输出端，并与后一级光功率分配器的光输入端连接；在级联的前M-1个光功率分配器的每个光功率分配器中，分别选取一个具有相同光功率分配比值的空闲光输出端作为检测端并使级联的第M个光功率分配器的具有所述相同光功率分配比值的光输出端也作为检测端，使所述检测端依次与第一光电探测器至第M光电探测器耦合，还使级联的第M个光功率分配器的剩余光输出端均作为检测端，并依次分别与第M+1光电探测器至第M+N-1光电探测器耦合；控制入射光进入第一级光功率分配器的光输入端；所述测试方法包括以下步骤：读取第一光电探测器至第M光电探测器探测到的光电流值，并求取数据点；所述数据点为坐标值i，10lgIi；其中，i为光电探测器的序号，Ii为序号为i的光电探测器所探测到的光电流值；对M个数据点执行线性拟合，得到最佳拟合线性线；读取最佳拟合线性线的斜率和级联输出端的光功率分配比值，以求取插入损耗，其中，求取插入损耗的转换公式为：IL＝-kI+10lgQ式中，IL为插入损耗，kI为最佳拟合线性线的斜率，Q为级联输出端的光功率分配比值所占的比例。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 无锡芯光互连技术研究院有限公司 改进的光功率分配器插入损耗测试方法及装置

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