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【发明公布】一种微米压痕测量点阵结构力学性能用试片及方法_西北工业大学_202211143384.3 

申请/专利权人:西北工业大学

申请日:2022-09-20

公开(公告)日:2024-03-22

公开(公告)号:CN117740584A

主分类号:G01N3/42

分类号:G01N3/42;G01N1/28;G01N1/32;G01N1/36;B33Y80/00

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.04.09#实质审查的生效;2024.03.22#公开

摘要:本发明公开了一种微米压痕测量点阵结构力学性能用试片,包括:固定件;待测量件,为点阵结构的结构件,待测量件固定在固定件上,固定件和待测量件为一体式结构,且通过增材制造得到,固定件上设置有标记,标记至少包括用于确定待测量件为所述点阵结构的目标结构件的被测件指示标记。本发明公开的微米压痕测量点阵结构力学性能用试片,由于仅包含待测量件和固定件,其厚度可做到与点阵结构的相应目标结构件的厚度接近,一般为1‑2mm,小而薄,便于存储、拿取、布置,操作方便,而且结构简单,便于制作,同时适用于多种类型的点阵结构。本发明还公开了一种微米压痕测量点阵结构力学性能的方法。

主权项:1.一种微米压痕测量点阵结构力学性能用试片,其特征在于,包括:固定件101;待测量件102,为点阵结构的结构件,所述待测量件102固定在所述固定件101上,所述固定件101和所述待测量件102为一体式结构,且通过增材制造得到,所述固定件101上设置有标记103,所述标记103至少包括用于确定所述待测量件102为所述点阵结构的目标结构件的被测件指示标记。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 西北工业大学 一种微米压痕测量点阵结构力学性能用试片及方法

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