申请/专利权人:芦溪高压电瓷电气研究院有限公司
申请日:2023-12-22
公开(公告)日:2024-03-22
公开(公告)号:CN117740848A
主分类号:G01N23/2202
分类号:G01N23/2202;G01N23/2251
优先权:
专利状态码:在审-实质审查的生效
法律状态:2024.04.09#实质审查的生效;2024.03.22#公开
摘要:本发明属于材料表征样品制备技术领域。本发明公开了一种不影响显微结构观察效果的非致密多孔状不良导体样品的制样方法,包括如下步骤:将待观察用的非致密多孔状不良导体样品浸渍于胶粘剂中,再顺次进行加压和固化处理,对观察面研磨、抛光,最后溅射导电层,即获得观察样品;所述胶粘剂包括如下质量份数的原料:树脂60~80份、丙烯酸酯改性硅油1~2份、硅烷偶联剂0.5~1.5份和溶剂50~100份,胶粘剂粘度值调节至≤20mPa·s25℃;解决了样品因致密度不够而难以切割成块或样品因存在大量孔洞而造成抽真空困难,导致在观测面无法喷金的问题,提高了制样效率和喷金成功率;而且本发明所述方法不影响样品显微结构观察。
主权项:1.一种不影响显微结构观察效果的非致密多孔状不良导体样品的制样方法,其特征在于,包括如下步骤:将待观察的非致密多孔状不良导体样品置于胶粘剂中浸渍,后进行固化处理,对观察面进行研磨、抛光,最后溅射导电层,即可获得观察样品;所述胶粘剂包括如下质量份数的原料:树脂60~80份、丙烯酸酯改性硅油1~2份、硅烷偶联剂0.5~1.5份和溶剂50~100份;树脂为酚醛树脂或改性水性丙烯酸树脂;溶剂为乙醇和丙酮的混合液;乙醇和丙酮的质量比为1~2:1~3;控制胶粘剂在25℃下的粘度值≤20mPa·s。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 芦溪高压电瓷电气研究院有限公司 一种不影响显微结构观察效果的非致密多孔状不良导体样品的制样方法
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解,仅供参考使用,不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。