申请/专利权人：四平市吉华高新技术有限公司

申请日：2017-06-29

公开（公告）日：2024-03-22

公开（公告）号：CN107290647B

主分类号：G01R31/28

分类号：G01R31/28

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.03.22#授权;2017.11.24#实质审查的生效;2017.10.24#公开

摘要：本发明公开了一种通断路测试仪，用于多层厚膜混合电路的测试，包括单片机、与单片机连接的，用于供电的电源模块、与单片机连接的，用于显示测试结果的显示电路、与单片机和测试产品的测试引脚连接的测试电路；测试电路包括用于接收单片机发送的电位以驱动锁存器的驱动电路、与锁存器的测试信号端连接的，具有多个测试针的测试板，测试针用于与测试引脚连接以将测试结果反馈至锁存器，锁存器还与单片机连接以将测试结果反馈至单片机。由此可见，本测试仪具有多个测试针，可以一次完成多组测试引脚的测试，与人工检测相比具有检测速度快、准确率高的特点。此外，本测试仪可以重复利用，并且通用性较强。

主权项：1.一种通断路测试仪，用于多层厚膜混合电路的测试，其特征在于，包括单片机、与所述单片机连接的，用于供电的电源模块、与所述单片机连接的，用于显示测试结果的显示电路、与所述单片机和测试产品的测试引脚连接的测试电路；所述测试电路包括用于接收所述单片机发送的电位以驱动锁存器的驱动电路、与所述锁存器的测试信号端连接的，具有多个测试针的测试板，所述测试针用于与所述测试引脚连接以将所述测试结果反馈至所述锁存器，所述锁存器还与所述单片机连接以将所述测试结果反馈至所述单片机；其中所述电源模块包括：交流电源、电源开关、保险丝、变压器、整流桥、第一电容、稳压管、第二电容、第三电容；所述整流桥由四个二极管构成，分别为第一二极管、第二二极管、第三二极管、第四二极管；所述交流电源与所述电源开关连接，所述电源开关与所述保险丝连接，所述保险丝与所述变压器的原边侧绕阻的第一端连接，所述变压器的原边侧绕阻的第二端与所述交流电源连接，所述变压器的副边侧绕阻的第一端与由所述第二二极管的阳极和所述第四二极管的阴极构成的公共端连接，所述变压器的副边侧绕阻的第二端与由所述第一二极管的阳极和所述第三二极管的阴极构成的公共端连接，且所述第一二极管的阴极和所述第二二极管的阴极连接，所述第二二极管的阴极分别与所述第一电容的第一端和所述稳压管的第一端连接，所述稳压管的第二端与所述第二电容的第一端和所述第三电容的第一端均连接，所述第三二极管的阳极、所述第四二极管的阳极、所述第一电容的第二端、所述稳压管的第三端、所述第二电容的第二端、所述第三电容的第二端均接地，所述稳压管的型号为LM7805，由所述稳压管的第二端、所述第二电容的第一端、所述第三电容的第一端构成的公共端作为所述电源模块的输出端，以便于输出供电电压VCC；还包括与所述单片机连接的，用于对所述测试结果进行翻页的按钮、启动开关、以及延时开关，其中，所述测试电路为多组，与所述测试产品一一对应；所述测试板具体包括第一测试针、第二测试针、第三测试针、第四测试针、第五测试针、第六测试针、第一测试开关、第二测试开关、第三测试开关、第四测试开关、第五测试开关；所述第一测试针与所述第一测试开关的第一端连接、所述第一测试开关的第二端和所述第二测试开关的第二端均与所述第六测试针连接，所述第二测试开关的第一端和所述第三测试开关的第一端均与所述第二测试针连接，所述第三测试开关的第二端和所述第五测试开关的第二端连接，所述第四测试开关的第一端与所述第三测试针连接，所述第五测试开关的第一端与所述第四测试针连接，所述第四测试开关的第二端与所述第五测试针连接；其中，所述第五测试针和所述第六测试针与所述测试信号端连接，所述测试产品包括5组测试点，具体为2组导通测试点和3组断开测试点。

全文数据：一种通断路测试仪技术领域[0001]本发明涉及电子技术领域，特别是涉及一种通断路测试仪。背景技术[0002]随着电子产品的快速发展，对于电子产品相应的电路板测试也提出了较高的要求。尤其是多层交叉布线的厚膜混合电路板，需要对多个测试点进行通断测试，例如电路产品跨接部分电极是否有开路、短路现象以及连线部分是否有断路现象。[0003]现有技术中，对于电路板的测试均为普通手工采用万用表或相关仪表检测，检测效率低、存在误操作，无法保证一致性。[0004]由此可见，在电路板的通断测试过程中，如何提高测量效率，提高检测速度和准确性是本领域技术人员亟待解决的问题。发明内容[0005]本发明的目的是提供一种通断路测试仪，用于在电路板的通断测试过程中，提高测量效率，提高检测速度和准确性。[0006]为解决上述技术问题，本发明提供一种通断路测试仪，用于多层厚膜混合电路的测试，包括单片机、与所述单片机连接的，用于供电的电源模块、与所述单片机连接的，用于显示测试结果的显示电路、与所述单片机和测试产品的测试引脚连接的测试电路；[0007]所述测试电路包括用于接收所述单片机发送的电位以驱动锁存器的驱动电路、与所述锁存器的测试信号端连接的，具有多个测试针的测试板，所述测试针用于与所述测试引脚连接以将所述测试结果反馈至所述锁存器，所述锁存器还与所述单片机连接以将所述测试结果反馈至所述单片机。[0008]优选地，还包括与所述单片机连接的，用于对所述测试结果进行翻页的按钮、启动开关、以及延时开关，其中，所述测试电路为多组，与所述测试产品一一对应。[0009]优选地，还包括与所述单片机连接的外接时钟电路。[0010]优选地，还包括与所述单片机连接的复位电路。[0011]优选地，还包括与所述单片机连接的上拉电阻电路。[0012]优选地，还包括与所述单片机连接的语音提示电路。[0013]优选地，所述显示电路包括LCD显示屏和与所述单片机连接的，用于显不所述单片机的测试结果是否合格以及所述测试产品所在位置的位置指^电路；[0014]所述位置指示电路包括与所述单片机连接的次品指示回路，以及与所述单片机连接的合格指示回路，所述合格指示回路包括多组，与所述测试产品一一对应。[0015]优选地，所述驱动电路具体包括第一电阻、NPN三极管、第二电阻、第三电阻和第四电阻；[0016]其中，所述第一电阻的第一端与所述单片机连接，所述第一电阻的第二端与所述NPN三极管的基极连接，所述NPN三极管的发射极接地，所述NPN三极管的集电极与所述第二电阻的第一端连接，所述第二电阻的第二端、所述第三电阻的第二端以及所述第四电阻的第二端均与所述电源模块连接，所述第三电阻的第一端和所述第四电阻的第一端与所述锁存器的电源端连接，所述第二电阻和所述NPN三极管的公共端与所述锁存器的启动端连接。[0017]优选地，所述测试板具体包括第一测试针、第二测试针、第三测试针、第四测试针、第五测试针、第六测试针、第一测试开关、第二测试开关、第三测试开关、第四测试开关、第五测试开关；[0018]所述第一测试针与所述第一测试开关的第一端连接、所述第一测试开关的第二端和所述第二测试开关的第二端均与所述第六测试针连接，所述第二测试开关的第一端和所述第三测试开关的第一端均与所述第二测试针连接，所述第三测试开关的第二端和所述第五测试开关的第二端连接，所述第四测试开关的第一端与所述第三测试针连接，所述第五测试开关的第一端与所述第四测试针连接，所述第四测试开关的第二端与所述第五测试针连接；[0019]其中，所述第五测试针和所述第六测试针与所述测试信号端连接，所述测试产品包括5组测试点，具体为2组导通测试点和3组断开测试点。[0020]优选地，所述锁存器为74HC573D锁存器。[0021]本发明所提供的通断路测试仪，包括单片机、电源模块、显示电路、和测试电路，其中测试电路包括驱动电路、锁存器和测试板。首先将测试引脚与测试板上的测试针连接，然后为测试引脚施加相应地电平信号，使得测试引脚之间的信号能够反馈至锁存器的测试信号端，锁存器与单片机连接，从而接收测试结果，最后单片机根据测试结果显示在显示电路上。由此可见，本测试仪具有多个测试针，可以一次完成多组测试引脚的测试，与人工检测相比具有检测速度快、准确率高的特点。此外，本测试仪可以重复利用，并且通用性较强。附图说明[0022]为了更清楚地说明本发明实施例，下面将对实施例中所需要使用的附图做简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。[0023]图1为本发明实施例提供的一种通断路测试仪的结构图；[0024]图2为本发明实施例提供的一种多层厚膜混合电路的结构图；[0025]图3为本发明实施例提供的一种电源模块的电路图；[0026]图4为本发明实施例提供的一种翻页按钮和启动开关的结构图；[0027]图5为本发明实施例提供的一种延时开关的结构图；[0028]图6为本发明实施例提供的一种单片机的引脚分布图；[0029]图7为本发明实施例提供的一种复位电路的结构图；[0030]图8为本发明实施例提供的一种上拉电路电路图；[0031]图9为本发明实施例提供的一种语音提示电路图；[0032]图10为本发明实施例提供的一种LCD显示屏的电路图；[0033]图11为本发明实施例提供的一种位置指示电路图；[0034]图12为本发明实施例提供的一种驱动电路与单片机和锁存器的连接结构图；[0035]图13为本发明实施例提供的一种测试板的结构图。具体实施方式[0036]下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下，所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护范围。[0037]本发明的核心是提供一种通断路测试仪，用于在电路板的通断测试过程中，提高测量效率，提高检测速度和准确性。[0038]为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步的详细说明。[0039]图1为本发明实施例提供的一种通断路测试仪的结构图。如图1所示，通断路测试仪包括单片机10、与单片机10连接的，用于供电的电源模块11、与单片机10连接的，用于显示测试结果的显示电路12、与单片机10和测试产品的测试引脚连接的测试电路13。[0040]测试电路13包括用于接收单片机10发送的电位以驱动锁存器14的驱动电路15、与锁存器14的测试信号端连接的，具有多个测试针的测试板16,测试针用于与测试引脚连接以将测试结果反馈至锁存器14,锁存器14还与单片机10连接以将测试结果反馈至单片机10。[0041]在具体实施中，本通断路测试仪用于多层厚膜混合电路的测试，具体是测试电路板16上各测试引脚之间的导通或断开。图2为本发明实施例提供的一种多层厚膜混合电路的结构图。如图2所示，该电路中包含有4个测试产品，分别为JP1、JP2、JP3、JP4。每个测试产品都包含有6个测试引脚，测试的目的是验证测试引脚2和测试引脚6是否导通、测试引脚3和测试引脚5是否导通、测试引脚2和测试引脚1是否断开、测试引脚3和测试引脚6是否断开以及测试引脚3和测试引脚4是否断开。测试原理如下：[0042]在测试引脚2和测试引脚3加高电压，在测试引脚6加低电压的时候检测测试引脚2的电压是否被拉低，如果是，则测试引脚2和测试引脚6导通，否则，断开；同理，在测试引脚3加高电压，在测试引脚5加低电压的时候检测测试引脚3的电压是否被拉低，如果是，则测试引脚3和测试引脚5导通，否则断开。此外，对于测试引脚2和测试引脚1、测试引脚3和测试引脚6以及测试引脚3和测试引脚4的检测与上述过程类似，再此不作赘述。[0043]通过单片机10给出一个电位，由于高低电位的变化，则驱动电路15产生相应地驱动信号，使得锁存器14启动。测试板16上的测试针与测试引脚连接，能够将测试信号发送给锁存器14,进而锁存器14将测试结果发送给单片机10。[0044]图3为本发明实施例提供的一种电源模块的电路图。可以理解的是，图3所示的电源模块只是具体实施例中的一种，并不代表只有这一种实施方式。如图3所示，220V交流电经过电源开关S1、保险丝F1、变压器T1变压后输出6.5V交流电，再由二极管D1-D4组成的整流桥整流和滤波电容C1滤波，经稳压管U1图中型号为LM7805稳压输出5V电压，经由滤波电容C2、C3滤波后为整个电路供电（电源模块11的输出端为VCC。[0045]本发明实施例提供的通断路测试仪，包括单片机、电源模块、显示电路、和测试电路，其中测试电路包括驱动电路、锁存器和测试板。首先将测试引脚与测试板上的测试针连接，然后为测试引脚施加相应地电平信号，使得测试引脚之间的信号能够反馈至锁存器的测试信号端，锁存器与单片机连接，从而接收测试结果，最后单片机根据测试结果显示在显示电路上。由此可见，本测试仪具有多个测试针，可以一次完成多组测试引脚的测试，与人工检测相比具有检测速度快、准确率高的特点。此外，本测试仪可以重复利用，并且通用性较强。[0046]可以理解的是，本实施例提供的通断路测试仪中的测试板的结构以及测试针的数目可以根据测试产品的具体情况设置，本实施例不作限定。[0047]在上述实施例的基础上，作为优选地实施方式，还包括与单片机10连接的，用于对测试结果进行翻页的按钮包括上翻按钮S3和下翻按钮S4、启动开关S5、以及延时开关S6，其中，测试电路13为多组，与测试产品——对应。[0048]在具体实施中，可能需要一次性测量多个测试产品，那么每个测试产就需要一组测试电路13，如图2所示，当测试产品为4个时，则需要4组测试电路13。[0049]图4为本发明实施例提供的一种翻页按钮和启动开关的结构图。图5为本发明实施例提供的一种延时开关的结构图。图6为本发明实施例提供的一种单片机的引脚分布图。通过单片机10上的引脚的标号与各部件对应连接。如图4所示，上翻按钮S3的一端接地，另一端与单片机10的H5连接，下翻按钮S4的一端接地，另一端与单片机10的P06连接；启动开关S5的一端接地，另一端与单片机10的P07连接。其中，启动开关S5是手动开关。如图5所示，延时开关S6是延时不同位置的测量时间，每次测试按下开关，将会自动延时开始测试。[0050]在上述实施例的基础上，作为优选地实施方式，还包括与单片机10连接的外接时钟电路17。如图6所示，外接时钟电路7包括晶振Y1和第四电容C4和第五电容C5。外接时钟电路17用于为单片机10发送时钟信号，具体过程不再赘述。[0051]在上述实施例的基础上，作为优选地实施方式，还包括与单片机10连接的复位电路18〇[0052]图7为本发明实施例提供的一种复位电路的结构图。如图7所示，复位电路包括复位开关S2,第六电容C6和第二电阻R2,复位开关S2的一端与单片机1〇的RESET连接。J3和J4是插针，与单片机10连接，再与接口件连接，均为20PIN。[0053]在上述实施例的基础上，作为优选地实施方式，还包括与单片机10连接的上拉电阻电路19。[0054]图8为本发明实施例提供的一种上拉电路电路图。包括电阻R8-R15,作为单片机10的P0口的上拉电阻，分别与P00-P07连接。当单片机10内部没有上拉电阻时，可以通过图8的方式添加，具体过程本发明不再赘述。[0055]在上述实施例的基础上，作为优选地实施方式，还包括与单片机10连接的语音提示电路20。[0056]图9为本发明实施例提供的一种语音提示电路图。如图9所示，包括电阻R1、三极管Q1和蜂鸣器U3,电阻R1的一端与单片机1〇的P04连接。单片机1〇的p〇4输出高电平信号，三极管导通，从而蜂鸣器U3开始发出声音，从而起到提示的作用。[0057]在上述实施例的基础上，作为优选地实施方式，显示电路12包括LCD显示屏U2和与单片机1〇连接的，用于显示单片机1〇的测试结果是否合格以及测试产品所在位置的位置指示电路21。[0058]位置指示电路21包括与单片机1〇连接的次品指示回路22，以及与单片机10连接的合格指示回路23,合格指示回路包括多组，与测试产品一一对应。[0059]图1〇为本发明实施例提供的一种LCD显示屏的电路图。如图1〇所示，LCD显示屏U2的各引脚与单片机10的引脚的连接关系，V0引脚通过电位器VR1接地。[0060]图11为本发明实施例提供的一种位置指示电路图。如图11所示，次品指示回路22包括电阻R3和发光二极管D5，电阻R3的一端与单片机10的P30连接。合格指示回路23包括电阻R4-R7和发光二极管D6-D9,每个电阻分别与一个发光二极管连接^电阻R4和发光二极管D6构成一组，电阻R4的一端与单片机10的P：31连接、电阻R5和发光二极管D7构成一组，电阻R5的一端与单片机10的P32连接、电阻R6和发光二极管D8构成一组，电阻R6的一端与单片机10的P33连接、电阻R7和发光二极管D9构成一组，电阻R7的一端与单片机10的P34连接。可以理解的是，图11所示的电路是在测试产品为4个的情况下。在具体实施中，可以选取发光二极管的发光颜色，例如，发光二极管D5为红色光，发光二极管D6-D9为绿色光。[0061]在上述实施例的基础上，作为优选地实施方式，驱动电路15具体包括第一电阻、NPN三极管、第二电阻、第三电阻和第四电阻。其中，第一电阻的第一端与单片机10连接，第一电阻的第二端与NPN三极管的基极连接，NPN三极管的发射极接地，NPN三极管的集电极与第二电阻的第一端连接，第二电阻的第二端、第三电阻的第二端以及第四电阻的第二端均与电源模块11连接，第三电阻的第一端和第四电阻的第一端与锁存器14的电源端连接，第二电阻和NPN三极管的公共端与锁存器14的启动端连接。[0062]图I2为本发明实施例提供的一种驱动电路与单片机和锁存器的连接结构图。如图12所示，包括4组驱动电路，分别为第一驱动电路150,第二驱动电路151，第三驱动电路152和第四驱动电路153。锁存器14包括第一锁存器A1，第二锁存器A2,第三锁存器A3和第四锁存器A4。优选地，锁存器14为74HC573D锁存器。[0063]第一驱动电路150包括电阻RI6-RI9电阻R16作为第一电阻，电阻R17作为第二电阻，电阻R18作为第三电阻，电阻Rig作为第四电阻和NPN三极管Q2。[00M]第二驱动电路151包括电阻R20-R23电阻R20作为第一电阻，电阻R21作为第二电阻，电阻R22作为第三电阻，电阻R23作为第四电阻和NPN三极管Q3。[0065]第三驱动电路152包括电阻R24-R27电阻R24作为第一电阻，电阻R25作为第二电阻，电阻R26作为第三电阻，电阻R27作为第四电阻和NPN三极管Q4。[0066]第四驱动电路I53包括电阻R28_R31电阻R28作为第一电阻，电阻R29作为第二电阻，电阻R3〇作为第三电阻，电阻似1作为第四电阻）和NPN三极管q5。[0067]在上述实施例的基础上，作为优选地实施方式，测试板16具体包括第一测试针CZS11、第二测试针CZS12、第三测试针CZS13、第四测试针CZS14、第五测试针CZS15、第六测试针CZS16、第一测试开关A、第二测试开关B、第三测试开关C、第四测试开关D、第五测试开关E。[0068]图13为本发明实施例提供的一种测试板的结构图。如图〗3所示，第一测试针CZS1工与第一测试开关A的第一端连接、第一测试开关A的第二端和第二测试开关B的第二端均与第六测试针CZS16连接，第二测试开关B的第一端和第三测试开关CZS13的第一端均与第二测试针CZS12连接，第三测试开关C的第二端和第五测试开关e的第二端连接，第四测试开关D的第一端与第三测试针CZSI3连接，第五测试开关CZS15的第一端与第四测试针CZS14连接，第四测试开关D的第二端与第五测试针CZS15连接；[0069]其中，第五测试针CZS15和第六测试针CZS16与测试信号端连接，测试产品包括5组测试点，具体为2组导通测试点和3组断开测试点。[0070]在具体实施中，当测试产品有4个时，则对应的需要设置4个测试板16,每个测试板16均为图13的结构，只不过与不同的锁存器15连接，进而与单片机10不同的口连接，本发明不再赘述。[0071]以图13为例进行说明，通过单片机10的P20的电位的高低变化直接和间接通过NPN三极管Q2及外围电路驱动第一锁存器A1的两个引脚。通过电压高低变化起到对该组电路中的第一锁存器A1的开启关闭状态转变的作用，电路开启时完成该组测试电路的扫描工作。其他3组驱动电路通过单片机10的P21、P22、P23引脚加低电压关闭对应的3组测试电路以免互相干扰第一组测试电路的测试结果。由此可见，本测试仪可以同时连接4个测试产品，在同一时间可以同时测试5组测试点，因此，一台测试仪一天的测试数量相当于5名员工的工作量，从而提高了测试效率。[0072]以上对本发明所提供的通断路测试仪进行了详细介绍。说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例公开的装置而言，由于其与实施例公开的方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明即可。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以对本发明进行若干改进和修饰，这些改进和修饰也落入本发明权利要求的保护范围内。[0073]还需要说明的是，在本说明书中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

权利要求：1.一种通断路测试仪，用于多层厚膜混合电路的测试，其特征在于，包括单片机、士所述单片机连接的，用于供电的电源模块、与所述单片机连接的，用于显示测试结果的显示电路、与所述单片机和测试产品的测试引脚连接的测试电路；所述测试电路包括用于接收所述单片机发送的电位以驱动锁存器的驱动电路、与所述锁存器的测试信号端连接的，具有多个测试针的测试板，所述测试针用于与所述测试引脚连接以将所述测试结果反馈至所述锁存器，所述锁存器还与所述单片机连接以将所述测试结果反馈至所述单片机。2.根据权利要求1所述的通断路测试仪，其特征在于，还包括与所述单片机连接的，用于对所述测试结果进行翻页的按钮、启动开关、以及延时开关，其中，所述测试电路为多组，与所述测试产品对应。3.根据权利要求1所述的通断路测试仪，其特征在于，还包括与所述单片机连接的外接时钟电路。4.根据权利要求1所述的通断路测试仪，其特征在于，还包括与所述单片机连接的复位电路。5.根据权利要求1所述的通断路测试仪，其特征在于，还包括与所述单片机连接的上拉电阻电路。6.根据权利要求1所述的通断路测试仪，其特征在于，还包括与所述单片机连接的语音提示电路。__7.根据权利要求1所述的通断路测试仪，其特征在于，所述显示电路包括WD显示屏和与所述单片机连接的，用于显示所述单片机的测试结果是否合格以及所述测试产品所在位置的位置指示电路；所述位置指示电路包括与所述单片机连接的次品指示回路，以及与所述单片机连接的合格指示回路，所述合格指示回路包括多组，与所述测试产品一一对应。8.根据权利要求1所述的通断路测试仪，其特征在于，所述驱动电路具体包括第一电阻、NPN三极管、第二电阻、第三电阻和第四电阻；其中，所述第一电阻的第一端与所述单片机连接，所述第一电阻的第二端与所述NPN三极管的基极连接，所述NPN三极管的发射极接地，所述NPN三极管的集电极与所述第二电阻的第一端连接，所述第二电阻的第二端、所述第三电阻的第二端以及所述第四电阻的第二端均与所述电源模块连接，所述第三电阻的第一端和所述第四电阻的第一端与所述锁存器的电源端连接，所述第二电阻和所述NPN三极管的公共端与所述锁存器的启动端连接。9.根据权利要求1所述的通断路测试仪，其特征在于，所述测试板具体包括第一测试针、第二测试针、第三测试针、第四测试针、第五测试针、第六测试针、第一测试开关、第二测试开关、第三测试开关、第四测试开关、第五测试开关；所述第一测试针与所述第一测试开关的第一端连接、所述第一测试开关的第二端和所述第二测试开关的第二端均与所述第六测试针连接，所述第二测试开关的第一端和所述第三测试开关的第一端均与所述第二测试针连接，所述第三测试开关的第二端和所述第五测试开关的第二端连接，所述第四测试开关的第一端与所述第三测试针连接，所述第五测试开关的第一端与所述第四测试针连接，所述第四测试开关的第二端与所述第五测试针连接；其中，所述第五测试针和所述第六测试针与所述测试信号端连接，所述测试产品包括5组测试点，具体为2组导通测试点和3组断开测试点。10.根据权利要求1-9任意一项所述的通断路测试仪，其特征在于，所述锁存器为74HC573D锁存器。

百度查询： 四平市吉华高新技术有限公司 一种通断路测试仪

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