申请/专利权人：广东利扬芯片测试股份有限公司

申请日：2021-12-06

公开（公告）日：2024-03-22

公开（公告）号：CN114200374B

主分类号：G01R35/00

分类号：G01R35/00;G01R23/02;G01R19/00

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.03.22#授权;2022.04.05#实质审查的生效;2022.03.18#公开

摘要：本发明揭示了一种自动化测试平台电压和频率自检系统，其特征在于：所述的自检系统通过其接口模块将自检系统耦接到产品生产测试板上，并经由产品生产测试版与自动化测试平台建立通讯；在产品生产测试板的的生产过程中，所述的自检系统对自动化测试平台的电压和频率进行实时自检。本发明所述的自动化测试平台电压和频率自检系统能够在芯片封测领域的生产测试过程中实时的频率、电压测试资源的进行自检，防止测试精度异常问题导致的测试结果出现偏差导致测试可靠性变低的问题。

主权项：1.一种芯片封测自动化测试平台电压和频率自检系统，其特征在于：所述的自检系统通过其接口模块将自检系统耦接到产品生产测试板上，并经由产品生产测试板与自动化测试平台建立通讯；在产品生产测试板的生产过程中，所述的自检系统对自动化测试平台的电压和频率进行实时自检；其中，所述自检系统包括供电模块和接口模块，且所述自检系统通过接口模块从自动化测试平台获取电能，并经由供电模块为所述自检系统提供电源；所述自检系统还包括基准频率模块，其用于提供基准频率；所述自检系统还包括基准电压模块，其用于提供基准电压；所述自动化测试平台提供+5V供电；所述基准频率模块采用1MHz有源晶振，一是为了利用来自于自动化测试平台的供电，二是为了满足基准需求并确保晶振频率较稳定；基准电压模块采用ADR34xx系列芯片，芯片的外围通过4线开尔文连接，用于实现1.2000V的典型值加上0.1%的精度，从而实现1.2mV以内精度的电压提供，温度系数8ppm℃的稳定性；产品生产测试板的一端连接自动化测试平台，另一端连接所述接口模块；产品生产测试板不仅在生产测试环节处于实时的工作状态，而且产品生产测试板自身也充当自动化测试平台与所述自检系统的连接桥梁；所述自检系统能够在芯片封测领域的生产测试过程中实时的频率、电压测试资源的进行自检，防止测试精度异常问题导致的测试结果出现偏差导致测试可靠性变低的问题。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 广东利扬芯片测试股份有限公司 一种自动化测试平台电压和频率自检系统

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