申请/专利权人：合肥康芯威存储技术有限公司

申请日：2023-12-14

公开（公告）日：2024-03-22

公开（公告）号：CN117409843B

主分类号：G11C29/08

分类号：G11C29/08

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.03.22#授权;2024.02.02#实质审查的生效;2024.01.16#公开

摘要：本发明提供了一种快闪存储器的质量分析方法、装置、电子设备及介质，包括如下步骤：对待测试的快闪存储器中的闪存块进行编号，以生成每个闪存块的编号数据，基于预设的分组规则，对闪存块进行分组处理，以生成多个闪存块组，分组规则包括闪存块组的数量以及每个闪存块组包含的闪存块的编号数据，为每个闪存块组分别确定对应的目标擦写次数，基于每个闪存块组对应的目标擦写次数，对每个闪存块组包含的闪存块进行相应次数的擦写操作，对进行擦写操作后的闪存块进行质量分析，以生成质量分析数据。本发明在分析快闪存储器进行擦写操作后的闪存质量时，能够显著降低分析误差，从而提高分析结果的准确率。

主权项：1.一种快闪存储器的质量分析方法，其特征在于，包括如下步骤：对待测试的快闪存储器中的闪存块进行编号，以生成每个所述闪存块的编号数据；基于预设的分组规则，对所述闪存块进行分组处理，以生成多个闪存块组，所述分组规则包括所述闪存块组的数量以及每个所述闪存块组包含的所述闪存块的编号数据；为每个所述闪存块组分别确定对应的目标擦写次数；基于每个所述闪存块组对应的所述目标擦写次数，对每个所述闪存块组包含的闪存块进行相应次数的擦写操作；对进行擦写操作后的所述闪存块进行质量分析，以生成质量分析数据；其中，所述对进行擦写操作后的所述闪存块进行质量分析，以生成质量分析数据的步骤包括：向多个所述闪存块内写入预设数据，其中，多个所述闪存块分别对应不同的目标擦写次数；对多个所述闪存块分别执行数据读取操作，并记录对应的数据读取次数；当每个所述闪存块出现不可纠正错误时，将对应的所述数据读取次数确定为该闪存块的读干扰次数阈值；建立多个所述闪存块的目标擦写次数与对应的读干扰次数阈值之间的关系表；对所述关系表进行分析处理，以生成所述质量分析数据；其中，每个所述闪存块组包含的所述闪存块的编号数据表示为n≤Xi≤n+a，或者每个所述闪存块组包含的所述闪存块的编号数据表示为Xi%b=i-1，每个所述闪存块组对应的目标擦写次数表示为[i-1×10+10]×10，其中，i为第i个闪存块组，Xi为第i个闪存块组包含的闪存块的编号数据，n为常数，a为常数，b为常数。

全文数据：

权利要求：

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