申请/专利权人:广州兰泰仪器有限公司
申请日:2023-08-25
公开(公告)日:2024-03-22
公开(公告)号:CN117073602B
主分类号:G01B21/08
分类号:G01B21/08;G06F18/22
优先权:
专利状态码:有效-授权
法律状态:2024.03.22#授权;2023.12.05#实质审查的生效;2023.11.17#公开
摘要:本发明提供了一种涂层智能测厚方法及系统,涉及涂层厚度测量技术领域,该方法包括:采集获得待测厚涂层件的基础信息;基于生产批次数据配置测厚波动系数;根据基础信息匹配组测厚仪器;调用同批次生产下的基体金属,配置初始化零点,对组测厚仪器进行零点校对;通过零点校对后的组测厚仪器执行涂层厚度测量,生成厚度测量数据;进行数据补偿,并通过数据补偿结果对组测厚仪器进行数值验证,基于数值验证结果生成测厚结果,解决了现有技术中存在由于大多通过单一类型的测厚仪器进行涂层厚度测量,且对于测量点为的设置不合理,进而导致涂层测厚结果不准确的技术问题,达到提升涂层测厚精度和准确性的技术效果。
主权项:1.一种涂层智能测厚方法,其特征在于,所述方法包括:采集获得待测厚涂层件的基础信息,其中,所述基础信息包括标识信息、材质信息、标定生产信息;基于所述标识信息调用生产批次数据,并基于所述生产批次数据配置测厚波动系数;根据所述基础信息匹配组测厚仪器,其中,所述组测厚仪器中每组至少包括两种仪器,并基于匹配结果进行组测厚仪器标识;通过所述标识信息调用同批次生产下的基体金属,并基于所述生产批次数据和所述测厚波动系数配置初始化零点,基于所述零点对所述组测厚仪器进行零点校对;通过零点校对后的所述组测厚仪器对所述待测厚涂层件执行涂层厚度测量,生成厚度测量数据;通过所述测厚波动系数、所述匹配结果对所述厚度测量数据进行数据补偿,并通过数据补偿结果对组测厚仪器进行数值验证,基于数值验证结果生成测厚结果。
全文数据:
权利要求:
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