申请/专利权人：武汉光迅科技股份有限公司

申请日：2023-09-01

公开（公告）日：2024-03-22

公开（公告）号：CN220653372U

主分类号：H04B10/079

分类号：H04B10/079

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.03.22#授权

摘要：本实用新型涉及光模块测试技术领域，提供了一种光模块并行测试系统，包括信号发射单元、分路器单元和至少两条测量路由，两条所述测量路由分别与所述分路器单元连接，所述信号发射单元与所述分路器单元连接；所述测量路由包括测量单元，所述测量单元内包含有待测光模块和第一误码仪，所述待测光模块与所述第一误码仪连接，以形成用于测量待测光模块的并行测试系统。本实用新型通过设置分路器单元，将至少两条测试路由设置在分路器单元上，通过减少误码仪每只待测光模块对应的平均使用数量，进而降低测试成本；本实用新型可以同时对多个光模块进行测量，进而使得本实用新型实施例的测试系统的效率提高。

主权项：1.一种光模块并行测试系统，其特征在于，包括信号发射单元1、分路器单元2和至少两条测量路由3，所述分路器单元2包括公共输入端和至少两个输出端；两条所述测量路由3分别与所述分路器单元2的输出端连接，所述信号发射单元1与所述分路器单元2的公共输入端连接；所述测量路由3包括测量单元31，所述测量单元31内包含有待测光模块311和第一误码仪312，所述待测光模块311的接收端与所述分路器单元2的输出端连接，所述待测光模块311与所述第一误码仪312连接。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 武汉光迅科技股份有限公司 一种光模块并行测试系统

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