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【发明公布】一种外差式光学相干检测色散测量系统_中国电子科技集团公司第三十八研究所_202311661048.2 

申请/专利权人:中国电子科技集团公司第三十八研究所

申请日:2023-11-30

公开(公告)日:2024-03-26

公开(公告)号:CN117760696A

主分类号:G01M11/02

分类号:G01M11/02

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.04.12#实质审查的生效;2024.03.26#公开

摘要:一种外差式光学相干检测色散测量系统,解决如何提高光波导的色散测量精度及测量范围问题;采用扫频激光器、第一功分器、待测光波导、第二功分器、探测器、数字处理单元依次连接,移频单元与第一功分器连接,移频单元与第二功分器连接,微波源与数字处理单元连接,微波源与移频单元连接;扫频激光器发出光信号经第一功分器分为两路,上光路经过待测光波导后输出,下光路经过移频单元移频,移频频率为微波源加载的微波信号的频率,使下光路频率相比上光路频率存在一个频率为微波源频率的频差;以外差式光相干检测的方式测量光传输延时,通过调节扫频激光器输出光波长实现色散引起的波长相关的延时检测,色散测量精度高,色散测量范围大。

主权项:1.一种外差式光学相干检测色散测量系统,其特征在于,包括:扫频激光器10、第一功分器11、第二功分器12、探测器13、数字处理单元14、微波源15、移频单元;扫频激光器10、第一功分器11、待测光波导20、第二功分器12、探测器13、数字处理单元14依次连接,所述的移频单元的第一输入端与第一功分器11的输出端连接,移频单元的输出端与第二功分器12的输入端连接,所述的微波源15的输入端与数字处理单元14连接,微波源15的输出端与移频单元的第二输入端连接;所述的数字处理单元14与微波源15之间时钟同步;所述的扫频激光器10发出的光信号经第一功分器11分为两路,上光路的光信号经过待测光波导20后输出,下光路的光信号经过移频单元移频,移频频率为微波源15加载的微波信号的频率,使下光路的光信号频率相比上光路的光信号频率存在一个频率为微波源15频率的频差,从而实现外差式相位检测。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 中国电子科技集团公司第三十八研究所 一种外差式光学相干检测色散测量系统

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