申请/专利权人：天津津航计算技术研究所

申请日：2023-11-24

公开（公告）日：2024-03-29

公开（公告）号：CN117785570A

主分类号：G06F11/22

分类号：G06F11/22

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.16#实质审查的生效;2024.03.29#公开

摘要：本发明公开了一种RAID阵列全自动测试系统，其包括：上位机、被测试服务器，上位机中配备RAID阵列卡测试套件，通过测试套件配置测试用例、测试相关参数，下发命令到各被测试服务器，完成测试命令下发工作；各被测试服务器依据测试命令及测试用例完成自测试动作，并把错误信息上传至上位机日志系统，依此定位问题。本发明测试自动化程度高，精度高。

主权项：1.一种RAID阵列全自动测试系统，其特征在于，包括：上位机、被测试服务器，上位机中配备RAID阵列卡测试套件，通过测试套件配置测试用例、测试相关参数，下发命令到各被测试服务器，完成测试命令下发工作；各被测试服务器依据测试命令及测试用例完成自测试动作，并把错误信息上传至上位机日志系统，依此定位问题。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 天津津航计算技术研究所 一种RAID阵列全自动测试系统

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