申请/专利权人：深圳帧观德芯科技有限公司

申请日：2021-08-13

公开（公告）日：2024-03-29

公开（公告）号：CN117795382A

主分类号：G01T1/29

分类号：G01T1/29;A61B6/12

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.16#实质审查的生效;2024.03.29#公开

摘要：本文公开了一种方法，所述方法包括：使用第一辐射传感器接收来自物体520的第一光子，所述第一辐射传感器包括M个感测元件组152，其中，所述M个感测元件组152中的每个感测元件组152包括多个感测元件150，并且其中，M是大于1的整数；基于所述第一辐射传感器的M个感测元件组152中的电信号确定所述M个感测元件组152的第一子集；以及基于所述第一子集中的感测元件组152的位置确定所述第一光子的第一估计路径。

主权项：1.一种方法，包括：使用第一辐射传感器接收来自物体的第一光子，所述第一辐射传感器包括M个感测元件组，其中，所述M个感测元件组中的每个感测元件组包括多个感测元件，并且其中，M是大于1的整数；基于所述第一辐射传感器的M个感测元件组中的电信号确定所述M个感测元件组的第一子集；以及基于所述第一子集中的感测元件组的位置确定所述第一光子的第一估计路径。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 深圳帧观德芯科技有限公司 使用辐射探测器确定光子起源点

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