申请/专利权人:江苏赛诺格兰医疗科技有限公司
申请日:2023-12-28
公开(公告)日:2024-03-29
公开(公告)号:CN117783804A
主分类号:G01R31/26
分类号:G01R31/26;G01R31/54
优先权:
专利状态码:在审-实质审查的生效
法律状态:2024.04.16#实质审查的生效;2024.03.29#公开
摘要:本发明涉及一种SiPM阵列生产焊接质量和良品检测方法及装置,属于辐射探测领域。该方法步骤包括:将获得的SiPM阵列中SiPM芯片的实时的IV曲线信息与原始IV曲线信息进行对比,并输出对比结果。装置包括:信息获得模块,用于获得SiPM阵列实时的IV曲线信息;信息对比模块,用于将信息获得模块采集的SiPM阵列实时的IV曲线信息与原始IV曲线信息进行对比,并输出对比结果。通过本发明的实施,可以达到品控SiPM阵列的目的,这些品控要素包括:自动获取大批量的SiPM的工作状态、单个SiPM芯片性能的测试、检测各焊点和连接器的通断性能、评价SiPM工作辅助电路上元器件是否工作正常和评价SiPM阵列的品质等。采用本发明的方法,还可以提高生产质量控制并增强故障诊断能力。
主权项:1.一种SiPM阵列生产焊接质量和良品检测方法,其特征在于:所述方法步骤包括:将获得的SiPM阵列中SiPM芯片的实时的IV曲线信息与原始IV曲线信息进行对比,并输出对比结果。
全文数据:
权利要求:
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