申请/专利权人：武汉光谷互连科技有限公司

申请日：2023-12-27

公开（公告）日：2024-03-29

公开（公告）号：CN117782520A

主分类号：G01M11/00

分类号：G01M11/00

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.16#实质审查的生效;2024.03.29#公开

摘要：本发明涉及通信测量技术领域，特涉及一种提升白光干涉仪测量范围的装置及方法。本发明通过一个多波长bragg光栅阵列代替传统方案的反射器，并在光源后面增加一个可调滤波器；多波长bragg光栅阵列为一根光纤上刻写了多个波长bragg光栅的光纤光栅，不同中心波长光栅在该光纤上的不同位置，并通过优化测量方法，提升了本发明的测量范围。

主权项：1.一种提升白光干涉仪测量范围的方法，其特征在于：包括以下步骤：步骤一、光源产生光信号，光信号光谱范围范围至少包含λ1至λn波长的范围；步骤二、调节可调滤波器，使其工作在λ1、λ2、λ3...λn波长其中的一个波长；波长为λ的光信号对应的相干长度有： 其中，λ0为光源经过可调滤波器输出光信号的中心波长，Δλ为中心波长对应的光谱宽度，N为光纤的折射率；步骤三、探测器接收信号为： Ir为参考路处光栅反射的光信号的光强，Is为测试路范围内由菲涅尔反射引起的反射光强；k为波矢，ΔL为光纤延时线的光程差改变量；其中，ΔL＝2v*t；v为光纤延时线的移动速度，t为时间；Ir＝cr·r·Iin，cr为耦合器对应参考路的耦合系数；r为对应波长光栅的反射率，Iin为可调滤波器对应波长的输入光强，Iin＝Tλ·I0，Tλ为可调滤波器对应波长的透射率，I0为光源的输出光强；Is＝cs·rs·Iin，cs为耦合器对应测试路的耦合系数；通过测量系统的干涉光强I随延时线延时t的变化值，得到测试路对应位置的反射光强；步骤四，光纤延时线的工作长度为Ld，使bragg光栅的位置L1＝Ld2，L2＝32·Ld，L3＝52·Ld....Ln＝2n-12·Ld，通过分别测量λ1、λ2、λ3...λn波长下干涉信号，再对每个干涉信号进行拼接，得到整个Ln长度下测试路光纤的干涉信号。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 武汉光谷互连科技有限公司 一种提升白光干涉仪测量范围的装置及方法

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