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【发明公布】具有双电子注入阻挡层的通用结构的NIR-OPD及其制备方法和应用_电子科技大学_202311825441.0 

申请/专利权人:电子科技大学

申请日:2023-12-28

公开(公告)日:2024-03-29

公开(公告)号:CN117794260A

主分类号:H10K30/30

分类号:H10K30/30;H10K30/60;H10K71/00

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.04.16#实质审查的生效;2024.03.29#公开

摘要:本发明公开了一种具有双电子注入阻挡层的通用结构的NIR‑OPD及其制备方法和应用,涉及有机半导体光电探测器领域。具体采用的具有双电子注入阻挡结构,即在器件的阳极与体异质结层之间引入“m‑MTDATADPEPO:HATCN”层,基于此获得的NIR‑OPD相较于传统结构具有更高的电子注入势垒及更宽的有效势垒宽度,从而在偏压下有效地阻挡了外电路电子的注入,明显地降低了器件的暗电流,同时保持了出色的光响应性能,因此器件实现了在‑2V偏压下远超过1012Jones的探测率,远远高于传统器件,实现了对微弱近红外信号光的探测。基于NIR‑OPD优异的探测性能实现了对于人体不同状态下的心率实时监测,表明了其具有广阔的应用前景。

主权项:1.具有双电子注入阻挡层的通用结构的NIR-OPD,其特征在于,包括第一功能层、光活性层、第二功能层;第一功能层为ZnO光生电子传输层;光活性层为PM6:BTP-BO-4Cl体异质结层或PTB7-Th:COTIC-4F:IEICO-4F体异质结层;第二功能层为外电路电子双阻挡层,结构为m-MTDATA层和DPEPO:HATCN层。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 电子科技大学 具有双电子注入阻挡层的通用结构的NIR-OPD及其制备方法和应用

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