申请/专利权人：航天科工微电子系统研究院有限公司

申请日：2020-12-16

公开（公告）日：2024-03-29

公开（公告）号：CN113253265B

主分类号：G01S13/90

分类号：G01S13/90;G01S7/28

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.03.29#授权;2021.08.31#实质审查的生效;2021.08.13#公开

摘要：本发明公开了一种基于TIR棱镜转向共孔径发射的层析成像方法，包括步骤：S1，发射照明激光，经过TIR棱镜，照射到目标上后返回获得目标成像信息；S2，再次发射照明激光，获得返回目标信息后，会获得目标成像的脱靶量，通过调节快反镜调节脱靶量，实现对目标的跟踪控制调节成像等；本发明能够全天候探测成像超远距离的目标，减少了杂光干扰，可以实现对复杂环境下目标的探测成像等优点。

主权项：1.基于TIR棱镜转向共孔径发射的层析成像方法，其特征在于，包括步骤：S1，发射照明激光，经过TIR棱镜，照射到目标上后返回获得目标成像信息；S2，再次发射照明激光，获得返回目标信息后，会获得目标成像的脱靶量，通过调节快反镜3调节脱靶量，实现对目标的跟踪控制调节成像；在步骤S1中，照明脉冲激光器25发出的激光经过TIR棱镜后，进入DLP芯片成像光学系统的DLP芯片单元，在DLP芯片单元处于关断状态下，通过库德光路经发射望远镜后照射到目标上，单个脉冲激光经过目标返回来的像经过倒置的发射望远镜、快反镜3、库德光路、TIR棱镜、上电后的DLP芯片单元后成像在短波光学成像系统16上，获得目标的成像信息；在步骤S2中，照明脉冲激光器25再发射下一个脉冲时，此时DLP芯片单元处于关断状态下，则下一个脉冲又经过发射望远镜发射到目标上，获得目标信息时，会获得目标成像的脱靶量，通过调节快反镜3调节脱靶量，实现对目标的跟踪控制调节；照明激光在DLP芯片单元的表面产生反射，通过控制DLP芯片单元的开关，能够控制DLP芯片单元是否产生偏转；所述DLP芯片单元在上电后，能够产生一个16度的偏转，在选通的时间内，选通的距离上，经目标返回的光经过倒置的发射望远镜、快反镜3、库德导光光路、TIR棱镜、上电的DLP芯片单元成像在短波光学成像系统16上，从而获得目标的成像信息；当目标的距离在变化时，通过照明激光缩束系统22实现对不同距离的脉冲激光的发射角进行调焦，实现在不同距离下对目标的辐射通量；所述TIR棱镜包括TIR棱镜上半部分12和TIR棱镜下半部分13，所述TIR棱镜上半部分12与TIR棱镜下半部分13连接；包括照明激光光轴校准步骤，照明脉冲激光器25发射的激光，经过照明激光准直透镜24准直后经过照明激光动镜23调节实现偏转，经过照明激光缩束系统22后经过照明激光反射镜19反射后传输到中继DLP芯片成像光学系统，透过照明激光反射镜19的光经过光轴指向成像微透镜20，成像在光轴指向探测器21上。

全文数据：

权利要求：

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