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【发明公布】一种用于磁铁镭雕检测的方法_包头市英思特稀磁新材料股份有限公司_202311867288.8 

申请/专利权人:包头市英思特稀磁新材料股份有限公司

申请日:2023-12-29

公开(公告)日:2024-04-02

公开(公告)号:CN117805137A

主分类号:G01N21/95

分类号:G01N21/95;B23K26/362;G06V10/141;G06V10/75;G06V10/44

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.04.19#实质审查的生效;2024.04.02#公开

摘要:本申请涉及一种用于磁铁镭雕检测的方法,包括:对当前待检测磁铁进行打光,获取当前待检测磁铁的打光图像;根据打光图像中各点位的像素值变化,基于灰度匹配算法确定当前待检测磁铁的镭雕位置以及镭雕中心点;根据打光图像中各点位的像素值变化,基于边缘查找算法确定当前待检测磁铁的底边直线和侧边直线;计算镭雕中心点到底边直线和侧边直线的距离;若镭雕中心点到侧边直线的距离属于第一预设距离区间,且镭雕中心点到底边直线的距离属于第二预设距离区间,判断当前待检测磁铁的镭雕正确;若镭雕中心点到侧边直线的距离不属于第一预设距离区间,或镭雕中心点到底边直线的距离不属于第二预设距离区间,判断当前待检测磁铁的镭雕错误。

主权项:1.一种用于磁铁镭雕检测的方法,其特征在于,包括:对当前待检测磁铁进行打光,获取当前待检测磁铁的打光图像;根据打光图像中各点位的像素值变化,基于灰度匹配算法确定当前待检测磁铁的镭雕位置以及镭雕中心点;根据打光图像中各点位的像素值变化,基于边缘查找算法确定当前待检测磁铁的底边直线和侧边直线;计算所述镭雕中心点到所述底边直线和所述侧边直线的距离;若所述镭雕中心点到所述侧边直线的距离属于第一预设距离区间,且所述镭雕中心点到所述底边直线的距离属于第二预设距离区间,判断当前待检测磁铁的镭雕正确;若所述镭雕中心点到所述侧边直线的距离不属于第一预设距离区间,或所述镭雕中心点到所述底边直线的距离不属于第二预设距离区间,判断当前待检测磁铁的镭雕错误。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 包头市英思特稀磁新材料股份有限公司 一种用于磁铁镭雕检测的方法

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