申请/专利权人：上海理工大学

申请日：2024-01-05

公开（公告）日：2024-04-02

公开（公告）号：CN117805952A

主分类号：G02B5/04

分类号：G02B5/04;G01N21/3581;G01N21/3577

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.19#实质审查的生效;2024.04.02#公开

摘要：本发明提供了一种太赫兹多次衰减全反射测量棱镜，用于进行太赫兹波衰减全反射检测待测介质，包括：一体成型的三棱柱体与矩形立方体，其中，三棱柱体的两侧四边形面均为通光面，矩形立方体中与通光面围成封闭实体的两侧四边形面以及后表面均为反射面，矩形立方体用于插入待测介质中，矩形立方体完全插入待测介质后，太赫兹波从三棱柱体的一侧通光面垂直耦合进入矩形立方体，经过矩形立方体的反射面进行2N次的全内反射后从三棱柱体的另一侧通光面垂直射出。与传统采用一次全反射设计方案相比，本发明中太赫兹波束穿透深度是其2N倍，具有更高的检测灵敏度，并且在使用时无需搭载样品池，特别适用于搭载在便携式的测量探头上。

主权项：1.一种太赫兹多次衰减全反射测量棱镜，用于进行太赫兹波衰减全反射检测待测介质，其特征在于，包括：一体成型的三棱柱体与矩形立方体，其中，所述三棱柱体的两侧四边形面均为通光面，所述矩形立方体中与所述通光面围成封闭实体的两侧四边形面以及后表面均为反射面，所述矩形立方体用于插入待测介质中，所述矩形立方体完全插入待测介质后，太赫兹波从所述三棱柱体的一侧所述通光面垂直耦合进入所述矩形立方体，经过所述矩形立方体的所述反射面进行全内反射后从所述三棱柱体的另一侧所述通光面垂直射出。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 上海理工大学 一种太赫兹多次衰减全反射测量棱镜

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