申请/专利权人：安徽国科仪器科技有限公司

申请日：2023-12-28

公开（公告）日：2024-04-02

公开（公告）号：CN117805155A

主分类号：G01N23/207

分类号：G01N23/207

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.19#实质审查的生效;2024.04.02#公开

摘要：本发明涉及基于非线性矫正算法的高精度X射线粉末衍射方法，包括S1、配置需要进行XRD实验操作的各元件参数；S2、获取用于表征在实际加工条件下影响X射线粉末衍射仪精度的转角仪有限圆度和偏心的全数据；S3、利用Polynomial非线性拟合方法对XRD实验中的实测全数据进行角度矫正，使其接近标准角度的水平；S4、选取标准样品作为基准，并对校正后的样品的XRD实测全数据进行效果仿真评估，完成定量化溯源转角仪的圆度和偏心程度分析。本发明通过提出采用Polynomial非线性拟合的方式，在经过矫正算法处理后，使得XRD实测值的角度与标准角度近似一致，有效地解决了转角仪在全角度量程内存在偏差的问题。

主权项：1.基于非线性矫正算法的高精度X射线粉末衍射方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、配置需要进行XRD实验操作的各元件参数：设定X射线光源为高斯分布的光源，并将待测样品放置转角仪上，上电启动X射线光源进行待测样品的XRD实测值角度的测量；S2、获取用于表征在实际加工条件下影响X射线粉末衍射仪精度的转角仪有限圆度和偏心的全数据，其中，在获取全数据的过程中，还需要构建数据采集约束策略，以节约计算资源，具体实施方式为：首先，建立最小相似度约束函数：其次，采集偏移数据集S中与转角仪静态状态下几何中心像素坐标点kx，ky相似度最高的偏移像素坐标点，所述偏移数据集S记为SS1，....,Sn；每个偏移数据集S至少包括转角仪静态状态下的图像信息Kkx，ky以及转角仪动态偏移状态下的所在区域的偏移图像信息Ttx，ty；最后，以该偏移像素坐标点tx，ty为基点，筛选并获取该偏移像素坐标点为tx，ty所表征的偏移图像信息Ttx，ty，形成表征转角仪有限圆度和偏心的实测全数据；S3、利用Polynomial非线性拟合方法对XRD实验中的实测全数据进行角度矫正，使其接近标准角度的水平；S4、选取标准样品作为基准，并对校正后的样品的XRD实测全数据进行效果仿真评估，完成定量化溯源转角仪的圆度和偏心程度分析。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 安徽国科仪器科技有限公司 基于非线性矫正算法的高精度X射线粉末衍射方法

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。

阅读全文 双屏查看 官方信息 专利公告 收藏专利 下载PDF 下载WORD