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【发明授权】高能射线照射SF6气体的电离测试方法_四川赛康智能科技股份有限公司_202011187444.2 

申请/专利权人:四川赛康智能科技股份有限公司

申请日:2020-10-30

公开(公告)日:2024-04-23

公开(公告)号:CN112326774B

主分类号:G01N27/66

分类号:G01N27/66

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.04.23#授权;2021.02.26#实质审查的生效;2021.02.05#公开

摘要:本发明属于电气设备检测技术领域,公开了高能射线照射SF6气体的电离测试方法,通过在一填充有SF6气体的封闭空间中设置两个具有间隔的电极材料,对两个电极材料通电产生极性,在对封闭空间进行高能射线照射时通过获取检测电极材料之间产生电流值进行分析获取电离数据。本发明精确测量在高能X射线照射下SF6气体所产省自由电子数量,无需施加高电压,安全性高;而自由电子由于电场力作用下累积到金属电极板,从而产生电流,电流表能精准捕捉到这个过程中产生的电流,大大的提高了测量的精准度。

主权项:1.高能射线照射SF6气体的电离测试方法,该方法用于指导现有GIS设备中填充SF6气体在进行无损探伤过程中对可能产生的变化进行调整,其特征在于,通过在一填充有SF6气体的封闭空间中设置两个具有间隔的电极材料,对两个电极材料通电产生极性,在对封闭空间进行高能射线照射时通过获取检测电极材料之间产生电流值进行分析获取电离数据;单次测试的具体步骤如下:S100.首先在一封闭容器中设置两个具有间距的电极,并在封闭容器中填充SF6气体;S101.通过向两个电极持续通电使得电极产生极性并形成磁场;S102.再向该封闭容器中持续照射高能射线;S103.对照射过程中的电极进行电流检测,根据电流值计算得到照射过程中SF6气体产生的自由电子数;S104.最后将照射后的SF6气体排出并对其成分进行检测完成单次测试;S105.将多个单次测试的成分分析数据与自由电子数合并形成SF6气体的照射电离结果对照表;所述封闭容器的内容积大于最小检测流量;所述封闭容器包括罐体(1)和设置在罐体(1)上的三通阀(3),通过三通阀(3)进行进气和排气控制;所述电极设置在罐体(1)内并通过引出线(10)与外部电源连通且在检测线路上串联电流表;所述电极为设置在罐体(1)内的金属板(7),所述金属板(7)通过绝缘材料固定在罐体(1)内部;在罐体(1)开口处覆盖有固定结构,开口均为圆形,并在开口内侧设有环状沉槽,并在环状沉槽上设有边缘厚度正好与环状沉槽深度相同的内板(9);所述内板(9)内侧中部凸起形成与罐体(1)的内表面贴合凸台,内板9放置在环状沉槽内,并通过外部设有的盖板6固定;当内板(9)完全沉入环状沉槽内时,其外部端面与开口端面齐平,在扣合盖板(6)后盖板(6)内侧表面会同时与内板(9)和罐体(1)开口端面贴合抵住;在内板(9)靠近环状沉槽的两侧薄壁表面均设有凹槽,在该凹槽内设有胶条从而形成密封;在步骤S102之前,先对两个电极在外部与电源之间形成的回路中进行电流检测,并在确认无电流时开始照射。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 四川赛康智能科技股份有限公司 高能射线照射SF6气体的电离测试方法

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