申请/专利权人：北京京东方传感技术有限公司;京东方科技集团股份有限公司

申请日：2022-09-21

公开（公告）日：2024-04-02

公开（公告）号：CN117807856A

主分类号：G06F30/27

分类号：G06F30/27;G06N3/0464;G06N3/048;G06N3/08

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.19#实质审查的生效;2024.04.02#公开

摘要：本申请公开了一种基于相控阵天线的数据重构方法和装置，数据重构方法包括：利用测试激励对相控天线阵中每个辐射单元进行激励控制；利用波导采样单元按照预设顺序依次对所述相控阵天线中的所述辐射单元进行采样，得到多个采样数据，所述波导采样单元覆盖至少两个相邻的所述辐射单元，所述采样数据包括所述相控阵天线在测试激励控制下的幅度分布和相位分布；将多个采样数据输入至训练好的深度学习模型，得到与多个采样数据对应的重构数据，重构数据的分辨率高于采样数据的分辨率，能够基于相控阵天线的低分辨率采样数据，还原出高分辨率的幅相分布。

主权项：1.一种基于相控阵天线的数据重构方法，其特征在于，包括：利用测试激励对相控天线阵中每个辐射单元进行激励控制；利用波导采样单元按照预设顺序依次对所述相控阵天线中的所述辐射单元进行采样，得到多个采样数据，所述波导采样单元覆盖至少两个相邻的所述辐射单元，所述采样数据包括所述相控阵天线在测试激励控制下的幅度分布和相位分布；将多个采样数据输入至训练好的深度学习模型，得到与多个采样数据对应的重构数据，重构数据的分辨率高于采样数据的分辨率。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 北京京东方传感技术有限公司;京东方科技集团股份有限公司 基于相控阵天线的数据重构方法和装置

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。

阅读全文 双屏查看 官方信息 专利公告 收藏专利 下载PDF 下载WORD