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【发明公布】一种圆阵部分相关干涉仪测向方法_北京科电航宇空间技术有限公司_202311694462.3 

申请/专利权人:北京科电航宇空间技术有限公司

申请日:2023-12-11

公开(公告)日:2024-04-02

公开(公告)号:CN117805724A

主分类号:G01S3/14

分类号:G01S3/14

优先权:

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.04.02#公开

摘要:本发明公开了一种圆阵部分相关干涉仪测向方法,针对现有干涉仪测向方法中存在单通道鉴相错误的问题,采用部分相关干涉仪法,去掉了最大误差通道,去除了错误通道带来的影响,可以有效估计来波方位角,具有抗单路相位差误差较大的特点。同时,本发明采用的圆阵部分相关干涉仪测向方法,在相位差随机误差相同的情况下,不会降低测向精度。

主权项:1.一种圆阵部分相关干涉仪测向方法,其特征在于,包括以下步骤:S1、根据具有M个阵元的圆阵生成相位差样本库;S2、采用频域鉴相法对圆阵接收信号鉴相,得到圆阵各个通道的相位差估计值;S3、计算相位差估计值和相位差样本库的差值;S4、根据差值,采用相关干涉仪法计算各个方向的全相关结果;S5、根据差值,采用部分相关干涉仪法计算得到部分相关结果;S6、计算全相关结果最大值对应的行号和部分相关结果最大值对应的行号;S7、根据全相关结果最大值对应的行号和部分相关结果最大值对应的行号计算全相关结果的相关度和部分相关结果的相关度;S8、根据全相关结果的相关度和部分相关结果的相关度拟合得到圆阵干涉仪的方位角。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 北京科电航宇空间技术有限公司 一种圆阵部分相关干涉仪测向方法

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