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【发明公布】一种基于阶梯靶标的线结构光传感器精度评价的方法_易思维(杭州)科技股份有限公司_202311854306.9 

申请/专利权人:易思维(杭州)科技股份有限公司

申请日:2023-12-29

公开(公告)日:2024-04-02

公开(公告)号:CN117804359A

主分类号:G01B11/14

分类号:G01B11/14;G01B11/00

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.04.19#实质审查的生效;2024.04.02#公开

摘要:本发明提供了一种基于阶梯靶标的线结构光传感器精度评价的方法,阶梯靶标包括设置多级台阶;向所述阶梯靶标的上表面侧表面投射激光条;相机采集激光条的图像,图像中包含多个相互平行的激光条段;对每个激光条段上的点进行三维重建,并将重建出的三维坐标分别存储到不同的点集中;利用各个点集分别拟合空间直线;从点集中,不重复的多次选取两个点集,形成多个点集组合;计算每个点集组合中的两个点集之间的间距值;将各个间距值与各级台阶的标准值进行比较;依据偏差值评价线结构光传感器的精度。本方法操作便捷,测量人员只需将待评价传感器的光平面垂直投向靶标,缩短了测试时间,适用于批量化的、多型号的结构光传感器的精度评价过程。

主权项:1.一种基于阶梯靶标的线结构光传感器精度评价的方法,其特征在于:所述阶梯靶标包括设置多级台阶,每级台阶都包括一个踏面和一个立面;所有踏面均平行于底面;所述踏面与立面的夹角为锐角或直角;所述线结构光传感器包括一个相机和一个投影仪,或者一个相机和一个激光发射器;投影仪或激光发射器投射出的激光条仅有一条;利用以下步骤评估线结构光传感器精度:1当踏面与立面的夹角为锐角,所述投影仪或激光发射器向所述阶梯靶标的各个踏面上投射激光条;当踏面与立面的夹角为直角,所述投影仪或激光发射器向所述阶梯靶标的踏面或者立面上投射激光条;2相机采集投射在所述阶梯靶标上的激光条的图像,图像中包含多个相互平行的激光条段;3分别对每个激光条段上的点进行三维重建,并将各激光条段上重建出的三维点分别存储到不同的点集中;利用各个点集分别拟合空间直线;从多个点集中,不重复的多次选取两个点集,形成多个点集组合;计算每个点集组合中的两个点集之间的间距值,所述间距值为:其中一个点集中的各个三维点到另一个点集拟合出的空间直线的距离均值;将各个间距值分别与各级台阶的标准值进行比较获取偏差值;4依据偏差值评价线结构光传感器的精度。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 易思维(杭州)科技股份有限公司 一种基于阶梯靶标的线结构光传感器精度评价的方法

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