申请/专利权人：深圳市晶存科技有限公司

申请日：2023-06-13

公开（公告）日：2024-04-02

公开（公告）号：CN116844627B

主分类号：G11C29/56

分类号：G11C29/56;G06F11/22

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.02#授权;2023.10.24#实质审查的生效;2023.10.03#公开

摘要：本申请公开了硬盘掉电测试方法、系统及介质，方法包括：对待测硬盘进行逻辑分区，得到第一分区和第二分区；向第一分区的至少一部分区域填充预设的样本数据，并向第二分区发送测试指令；对待测硬盘进行异常掉电；当待测硬盘通过异常掉电，将样本数据拷贝至第二分区，并对待测硬盘进行异常掉电；当确定样本数据拷贝成功并且待测硬盘通过异常掉电，对第一分区进行数据填充操作，直至满足预设的结束条件。根据本申请的技术方案，能够在硬盘填充数据的情况下对硬盘进行测试，更加贴近硬盘的应用场景，实现对硬盘的全面掉电测试。

主权项：1.一种硬盘掉电测试方法，其特征在于，所述方法包括：对待测硬盘进行逻辑分区，得到第一分区和第二分区；向所述第一分区的至少一部分区域填充预设的样本数据，并向所述第二分区发送测试指令；对所述待测硬盘进行异常掉电；当所述待测硬盘通过异常掉电，将所述样本数据拷贝至所述第二分区，并对所述待测硬盘进行异常掉电；当确定所述样本数据拷贝成功并且所述待测硬盘通过异常掉电，对所述第一分区进行数据填充操作，直至满足预设的结束条件；其中，所述对所述第一分区进行数据填充操作，包括：获取预设的测试数据的测试容量；对所述第一分区进行容量测试，确定所述第一分区的剩余容量以及已填充容量；当所述测试容量小于所述剩余容量，将所述测试数据填充至所述第一分区；其中，所述将所述测试数据填充至所述第一分区，包括：获取所述测试数据的第二写入地址；根据所述剩余容量确定所述第一分区的写入地址区间；当所述写入地址区间中的地址与所述第二写入地址匹配，根据所述第二写入地址将所述测试数据填充至所述第一分区的数据块中；其中，所述对待测硬盘进行逻辑分区，得到第一分区和第二分区，包括：获取所述待测硬盘的实际容量；基于预设的分区规则对所述待测硬盘的实际容量进行逻辑分区，得到第一分区和第二分区，其中，所述第一分区的容量大于等于所述第二分区的容量。

全文数据：

权利要求：

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