申请/专利权人：苏州萨沙迈半导体有限公司;合肥智芯半导体有限公司;上海萨沙迈半导体有限公司;天津智芯半导体科技有限公司

申请日：2023-12-12

公开（公告）日：2024-04-02

公开（公告）号：CN117406699B

主分类号：G05B23/02

分类号：G05B23/02

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.02#授权;2024.02.02#实质审查的生效;2024.01.16#公开

摘要：本发明涉及芯片设计领域，具体公开了一种MCU上电自检电路及芯片、电子设备，其中MCU包括用于给内核供电的第一LDO，上电自检电路包括：第一电压检测电路、上电检测电路、请求电路、延时重启电路和状态控制器，第一电压检测电路分别与第一LDO和上电检测电路相连，请求电路分别与上电检测电路、延时重启电路和状态控制器相连，状态控制器分别与第一LDO、第一电压检测电路、上电检测电路和延时重启电路相连。其中，第一电压检测电路和上电检测电路用于检测第一LDO是否完成上电；状态控制器、控制延时重启电路和请求电路用于控制第一LDO重新上电。该自检电路可实现针对第一LDO的上电检测和自动重启，避免MCU因第一LDO上电异常而整体重启，使MCU的工作效率较高。

主权项：1.一种MCU上电自检电路，其特征在于，所述MCU包括用于给内核供电的第一LDO，所述上电自检电路包括：第一电压检测电路、上电检测电路、请求电路、延时重启电路和状态控制器，所述第一电压检测电路分别与所述第一LDO和所述上电检测电路相连，所述请求电路分别与所述上电检测电路、所述延时重启电路和所述状态控制器相连，所述状态控制器分别与所述第一LDO、所述第一电压检测电路、所述上电检测电路和所述延时重启电路相连，其中，所述第一电压检测电路用于检测所述第一LDO上电过程中的第一电压，并基于所述第一电压输出所述第一LDO的上电状态信号；所述上电检测电路用于基于所述上电状态信号确定所述第一LDO在第一预设时间内是否完成上电，并输出相应的上电检测信号；所述请求电路用于基于所述上电检测信号确定所述第一LDO未在第一预设时间内完成上电时，输出延时重启请求信号；所述状态控制器用于基于所述延时重启请求信号控制所述第一LDO停止上电、所述第一电压检测电路和所述上电检测电路停止工作、以及所述延时重启电路工作；所述延时重启电路用于在延时第二预设时间后输出延时重启信号；所述请求电路还用于基于所述延时重启信号输出重启请求信号；所述状态控制器还用于基于所述重启请求信号控制所述第一LDO重新上电、所述第一电压检测电路和所述上电检测电路工作、以及所述延时重启电路停止工作。

全文数据：

权利要求：

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