申请/专利权人：北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所

申请日：2020-12-15

公开（公告）日：2024-04-02

公开（公告）号：CN112597009B

主分类号：G06F11/36

分类号：G06F11/36

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.02#授权;2021.04.23#实质审查的生效;2021.04.02#公开

摘要：本发明涉及一种基于覆盖率排序的FPGA内嵌PCIExpressIP核量产测试优化方法，具体步骤如下：步骤1：产生FPGA内嵌PCIExpressIP核测试需要的测试向量集；步骤2：使用测试向量节点覆盖率统计算法对测试向量集中的每个测试向量进行节点覆盖率测算；步骤3：由步骤2得到测试向量集中节点覆盖率最高的单测试向量；步骤4：使用测试向量集排序算法基于步骤3得到的单测试向量，对原测试向量集进行排序优化，完成对测试向量集的优化。通过以上步骤，在不降低测试覆盖率的前提下，采用基于覆盖率排序的量产测试优化方法完成对测试向量集的排序优化，可以有效提高测试向量集的测试效率，缩短配置测试时间，降低配置测试成本。

主权项：1.一种基于覆盖率排序的FPGA内嵌PCIExpressIP核量产测试优化方法，其特征在于，包括步骤如下：步骤1：产生FPGA内嵌PCIExpressIP核测试需要的测试向量集；步骤2：使用测试向量节点覆盖率统计算法对测试向量集中的每个测试向量进行节点覆盖率测算；步骤3：由步骤2得到测试向量集中节点覆盖率最高的单测试向量；步骤4：使用测试向量集排序算法和步骤3得到的节点覆盖率最高的单测试向量，对原测试向量集进行排序优化，完成对测试向量集的优化；步骤4的具体步骤如下：步骤41：创建优化向量文件序列，令整数T＝0；步骤42：将步骤3得到的节点覆盖率最高的单测试向量添加至优化向量文件序列[T]，并删除源文件序列中的该向量文件，令M＝M-1；步骤43：将优化向量文件序列中的T+1个向量文件分别与源文件序列中的每个向量文件进行组合，共形成M个向量组合；步骤44：测算每一个向量组合的总节点覆盖率，并通过比较覆盖率大小，得到覆盖率最高的向量组合，将该向量组合更新至优化向量文件序列，并删除源文件序列中的与该向量组合相同的测试向量，令M＝M-1；步骤45：比较步骤44中向量组合的节点覆盖率是否超过设定的覆盖率目标，若超过，则输出优化向量文件序列；否则，令T＝T+1，执行步骤43；其中，源文件序列包括所有测试向量文件，M为测试向量的总数。

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