申请/专利权人：昆明理工大学

申请日：2024-01-18

公开（公告）日：2024-04-09

公开（公告）号：CN117856914A

主分类号：H04B10/516

分类号：H04B10/516;H04B10/54

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.26#实质审查的生效;2024.04.09#公开

摘要：本发明公开了一种马赫曾德尔强度调制器工作点的调控系统及调控方法，调控系统包括：可调激光器、第一光耦合器、第二光耦合器、第一光电探测器、带通滤波器、鉴频鉴相模块、高稳晶振、环路滤波器、电压补偿单元、加法器、扰动信号发生器、MCU单元和第二光电探测器。本发明通过MCU单元调节高稳参考频率的分频值，改变调制器的偏置电压使其工作在对应工作点，实现调制器工作点任意可控；通过使用锁相环作为马赫曾德尔强度调制器工作点的控制单元，简化了整个系统的设计结构，为马赫曾德尔强度调制器的工作点控制提供了一种新的设计方案。

主权项：1.一种马赫曾德尔强度调制器工作点的调控系统，其特征在于，包括：可调激光器、第一光耦合器、第二光耦合器、第一光电探测器、带通滤波器、鉴频鉴相模块、高稳晶振、环路滤波器、电压补偿单元、加法器、扰动信号发生器、MCU单元和第二光电探测器；所述马赫曾德尔强度调制器分别与所述可调激光器和所述加法器连接；所述第一光耦合器分别与所述马赫曾德尔强度调制器和所述第二光耦合器连接；所述第二光耦合器还分别与所述第一光电探测器和所述第二光电探测器连接；所述第一光电探测器还与所述带通滤波器连接；所述第二光电探测器还与所述MCU单元连接；所述鉴频鉴相模块分别与所述带通滤波器、所述高稳晶振、所述环路滤波器和所述MCU单元连接；所述电压补偿单元分别与所述环路滤波器、所述MCU单元和所述加法器连接；所述加法器还与所述扰动信号发生器连接。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 昆明理工大学 一种马赫曾德尔强度调制器工作点的调控系统及调控方法

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。

阅读全文 双屏查看 官方信息 专利公告 收藏专利 下载PDF 下载WORD