申请/专利权人：山西太钢不锈钢股份有限公司

申请日：2024-01-15

公开（公告）日：2024-04-09

公开（公告）号：CN117849081A

主分类号：G01N23/207

分类号：G01N23/207;G01N23/2005

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.26#实质审查的生效;2024.04.09#公开

摘要：本发明属于X射线衍射分析技术领域，涉及一种利用XRD分析硅铁球中单质硅含量的方法，包括：将参比物粉末与纯硅粉末混合均匀；用XRD扫描所述混合粉末，根据得到的衍射图谱获取参比物粉末与纯硅粉末的定量衍射峰强度，并计算参比物粉末和纯硅粉末的定量衍射峰强度的关系；将待测硅铁球粉末与参比物粉末混合均匀得到粉末样品，记录硅铁球粉末重量及参比物粉末重量；用XRD扫描所述粉末样品，得到衍射图谱获取硅衍射峰强度及参比物衍射峰强度，结合参比物粉末和纯硅粉末的定量衍射峰强度关系、硅铁球粉末重量、参比物粉末重量，计算所述待测硅铁球粉末中单质硅百分含量。本发明操作简单，分析结果精确，对炼钢辅料硅铁球的质量评估提供了重要的依据。

主权项：1.一种利用XRD分析硅铁球中单质硅含量的方法，其特征在于，包括：1将参比物粉末与纯硅粉末混合均匀，得到混合粉末；2用XRD扫描所述混合粉末，根据得到的衍射图谱获取所述参比物粉末与所述纯硅粉末的定量衍射峰强度，并计算参比物粉末和纯硅粉末的定量衍射峰强度的关系；3将待测硅铁球粉末与参比物粉末混合均匀得到粉末样品，记录硅铁球粉末重量及参比物粉末重量；4用XRD扫描所述粉末样品，得到衍射图谱获取硅衍射峰强度及参比物衍射峰强度，结合参比物粉末和纯硅粉末的定量衍射峰强度关系、硅铁球粉末重量、参比物粉末重量，计算所述待测硅铁球粉末中单质硅百分含量。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 山西太钢不锈钢股份有限公司 一种利用XRD分析硅铁球中单质硅含量的方法

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