申请/专利权人：苏州元脑智能科技有限公司

申请日：2024-01-05

公开（公告）日：2024-04-09

公开（公告）号：CN117851112A

主分类号：G06F11/10

分类号：G06F11/10;G06F11/22;G06F18/2321

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.26#实质审查的生效;2024.04.09#公开

摘要：本申请实施例提供了一种磁盘性能的测试方法及装置，其中，该方法包括：分别对目标磁盘包括的多个磁盘扇区中每个磁盘扇区执行N种数据处理操作，得到每个磁盘扇区的扇区性能参数；根据磁盘扇区的扇区性能参数确定出每个磁盘扇区的目标数据处理操作；在每个磁盘扇区上执行与磁盘扇区对应的目标数据处理操作的压力测试，得到每个磁盘扇区的压力测试结果；根据多个磁盘扇区的压力测试结果测试确定目标磁盘的磁盘性能。通过本申请，解决相关技术中对磁盘性能测试的准确率较低的问题，达到提高对磁盘性能测试的准确率的效果。

主权项：1.一种磁盘性能的测试方法，其特征在于，包括：分别对目标磁盘包括的多个磁盘扇区中每个所述磁盘扇区执行N种数据处理操作，得到每个所述磁盘扇区的扇区性能参数，其中，不同种类的所述数据处理操作在所述磁盘扇区上对数据的处理方式是不同的，所述扇区性能参数用于表征所述磁盘扇区对不同种类的所述数据处理操作的执行能力，N为大于或者等于2的整数；根据所述磁盘扇区的所述扇区性能参数确定出每个所述磁盘扇区的目标数据处理操作，其中，所述目标数据处理操作为所述N种数据处理操作中包括的一种或者多种所述数据处理操作；在每个所述磁盘扇区上执行与所述磁盘扇区对应的所述目标数据处理操作的压力测试，得到每个所述磁盘扇区的压力测试结果，其中，所述压力测试结果用于表征在对所述磁盘扇区执行对应的所述目标数据处理操作时所述磁盘扇区的数据处理能力；根据所述多个磁盘扇区的所述压力测试结果测试所述目标磁盘的磁盘性能。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 苏州元脑智能科技有限公司 磁盘性能的测试方法及装置

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