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【发明公布】X射线透过构件_东丽株式会社_202280057030.9 

申请/专利权人:东丽株式会社

申请日:2022-08-29

公开(公告)日:2024-04-09

公开(公告)号:CN117858668A

主分类号:A61B6/03

分类号:A61B6/03;A61B6/00;A61B6/04;B32B5/24;G03B42/02

优先权:["20210901 JP 2021-142144"]

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.04.26#实质审查的生效;2024.04.09#公开

摘要:本发明以提供作为X射线检查设备的X射线透过构件应用时获得的X射线图像的画质变得良好的构件作为目的。用于实现上述目的的本发明的X射线透过构件的一方案为X射线检查设备所使用的X射线透过构件,其具有芯材I、和配置在芯材I的至少一侧的表皮材II,芯材I为多孔质体,表皮材II由纤维增强树脂制成,芯材I的、表皮材II侧的接合面形成的截面曲线的通过JISB06012001定义的算术平均粗糙度Ra为50μm以下。

主权项:1.一种X射线透过构件,是X射线检查设备所使用的X射线透过构件,其包含多孔质体,所述多孔质体的表面的通过2001年的JISB0601定义的算术平均粗糙度Ra为100μm以下。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 东丽株式会社 X射线透过构件

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