申请/专利权人：清华大学

申请日：2024-01-16

公开（公告）日：2024-04-09

公开（公告）号：CN117571543B

主分类号：G01N9/24

分类号：G01N9/24

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.09#授权;2024.03.08#实质审查的生效;2024.02.20#公开

摘要：本申请提出一种利用Xγ射线在线测量散状物料真密度的方法及系统，所述方法包括：获取待测量散状物料的堆积厚度，并基于所述堆积厚度对所述散状物料进行分层；利用主探测器测量出准直的Xγ射线束透射散状物料后的射线强度、利用辅助探测器阵列测量出Xγ射线与物料的康普顿散射射线强度；根据主探测器测量出的所述Xγ射线束透射散状物料后的射线强度和辅助探测器阵列测量出的所述Xγ射线与物料的康普顿散射射线强度确定所述散状物料各层的密度；根据所述散状物料各层的密度确定所述散状物料的真密度。本申请提出的技术方案，可以准确的测量出散状物料的真密度，为工业生产提供科学的指导。

主权项：1.一种利用Xγ射线在线测量散状物料真密度的方法，其特征在于，所述方法包括：获取待测量散状物料的堆积厚度，并基于所述堆积厚度对所述散状物料进行分层；利用主探测器测量出准直的Xγ射线束透射散状物料后的射线强度、利用辅助探测器阵列测量出Xγ射线与物料的康普顿散射射线强度；根据主探测器测量出的所述Xγ射线束透射散状物料后的射线强度和辅助探测器阵列测量出的所述Xγ射线与物料的康普顿散射射线强度确定所述散状物料各层的密度；根据所述散状物料各层的密度确定所述散状物料的真密度；其中，所述根据主探测器测量出的所述Xγ射线束透射散状物料后的射线强度和辅助探测器阵列测量出的所述Xγ射线与物料的康普顿散射射线强度确定所述散状物料各层的密度，包括：根据主探测器测量出的所述Xγ射线束透射散状物料后的射线强度确定各层散状物料对应的Xγ射线强度；根据所述各层散状物料对应的Xγ射线强度、辅助探测器阵列中各辅助探测器测量出的所述Xγ射线与物料的康普顿散射射线强度确定所述散状物料各层的密度；所述根据主探测器测量出的所述Xγ射线束透射散状物料后的射线强度确定各层散状物料对应的Xγ射线强度，包括：将所述主探测器测量出的所述Xγ射线束透射散状物料后的射线强度作为第一层散状物料对应的Xγ射线强度；基于Xγ射线的指数衰减规律和所述第一层散状物料对应的Xγ射线强度确定第2-n层中各层散状物料对应的Xγ射线强度，n为散状物料分层总数；其中，所述Xγ射线的指数衰减规律的计算式如下： 式中，为准直的Xγ射线束透射散状物料后的射线强度，为未经散状物料衰减的Xγ射线强度，为预设的质量衰减系数，为散状物料的真密度，为散状物料排除空隙后的厚度。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 清华大学 一种利用X/γ射线在线测量散状物料真密度的方法及系统

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