申请/专利权人：贵州航天电子科技有限公司

申请日：2021-12-07

公开（公告）日：2024-04-09

公开（公告）号：CN114248070B

主分类号：B23P15/00

分类号：B23P15/00;G01D11/24

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.09#授权;2022.04.15#实质审查的生效;2022.03.29#公开

摘要：一种测试仪框架的加工方法，所述测试仪框架结构包括上框体部和下框体部，所述下框体部位于上框体部的下端，在测试仪框架结构的内侧设置有内缘板；测试仪框架结构的外周面为阶梯状型面，在上框体部的内侧设置有斜面；所述测试仪框架为长方形框架结构，测试仪框架结构采用铝合金型材折弯后焊接而成。测试仪框架由于采用铝合金型材折弯后焊接而成，克服了传统加工方式中采用铝合金板进行数控铣削加工中存在的加工去除余量较大、浪费材料、也需要耗费大量加工时间的问题，极大地提高了测试仪框架的制造效率。测试仪框架的内侧型面以及外周型面均由铝合金型材形成，克服了采用数控铣削方式存在的一次装夹无法完成内型面和外型面的整体加工的问题。

主权项：1.一种测试仪框架的加工方法，其特征在于：测试仪框架结构包括上框体部（10）和下框体部（20），所述下框体部（20）位于上框体部（10）的下端，在测试仪框架结构的内侧设置有内缘板（30）；测试仪框架结构的外周面为阶梯状型面，在上框体部（10）的内侧设置有斜面（101）；所述测试仪框架为长方形框架结构，测试仪框架结构采用铝合金型材（40）折弯后焊接而成；铝合金型材（40）包括基板（401）、以及与基板（401）一体成型的横向侧板（402）；所述横向侧板（402）设置在基板（401）的其中一长侧面上，基板（401）的另一长侧面上为阶梯状型面，与测试仪框架结构的外周面为阶梯状型面形状一致；铝合金型材（40）折弯后，基板（401）的上部围成测试仪框架的上框体部（10），基板（401）的下部围成测试仪框架的下框体部（20），横向侧板（402）形成测试仪框架的内缘板（30）；包括如下工序：工序S1：去毛刺及矫直：用刮刀、金相砂皮去除铝合金型材（40）上的毛刺，并进行矫直；工序S2：在铝合金型材（40）的横向侧板（402）加工出四个直角状的缺口（403），所述缺口的位置与测试仪框架上四个角的位置相对应；工序S3：折弯并矫形：将铝合金型材（40）折弯后得到长方形框架，并对折弯得到的长方形框架结构进行矫形；工序S4：热处理；工序S5：焊接：采用氩弧焊焊接铝合金型材（40）端面对接处、以及长方形框架上四角处横向侧板（402）的对接位置；焊接后进行矫形；工序S6：铣焊疤及修锉焊疤：采用铣床铣长方形框架上四角处横向侧板（402）对接位置的焊疤；修锉铝合金型材（40）端面对接处的焊疤；所述工序S5中，焊接长方形框架上四角处横向侧板（402）的对接位置时，采用单面焊双面成型，靠近基板（401）的根部留出1~2mm的缝不焊合拢。

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权利要求：

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