申请/专利权人：聚光科技(杭州)股份有限公司

申请日：2021-12-29

公开（公告）日：2024-04-09

公开（公告）号：CN114486655B

主分类号：G01N15/06

分类号：G01N15/06

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.09#授权;2022.05.31#实质审查的生效;2022.05.13#公开

摘要：本发明提供了基于β射线分析技术的颗粒物检测方法，具体为：不含颗粒物的零气进入采样管并穿过滤膜；同时，β射线穿过滤膜，获得计数的平均值I0；进入采样管的待测气体中颗粒物被滤膜截留；同时，获得多个时间段内计数的平均值Ii，i＝1,2···N；根据时间段内计数的平均值、平均值I0以及该时间段内的待测气体体积得到该时间段内的颗粒物含量；在滤膜富集颗粒物的同时，获得时间段[T1，T2]内与多个时间点ti分别对应的计数值Ai，i＝1,2···M，获得计数值Ai与时间点ti的映射关系A＝ft；根据所述映射关系计算得到时间段[T1，T2]内任意二个时间点t′1、t′2处的计数值A′1、A′2，根据计数值A′1、A′2以及时间点t′1、t′2间待测气体体积，得到时间点t′1、t′2间待测气体中颗粒物含量。本发明具有检测结果准确等优点。

主权项：1.基于β射线分析技术的颗粒物检测方法，其特征在于，所述基于β射线分析技术的颗粒物检测方法为：通过切换，不含颗粒物的零气进入采样管，并穿过滤膜；同时，放射源发出的β射线穿过处于采样管下侧的滤膜，探测器计数，获得计数的平均值I0；通过切换，待测气体进入采样管，待测气体中的颗粒物被滤膜截留；同时，放射源发出的β射线穿过富集有颗粒物的滤膜，探测器计数，获得多个时间段内计数的平均值Ii，i=1,2…N；根据每个时间段内计数的平均值、所述平均值I0以及该时间段内的待测气体体积得到该时间段内的颗粒物含量；当滤膜上富集的颗粒物达到阈值时，喷嘴抬起，滤膜移动，使得空白滤膜移动到所述喷嘴下侧；所述喷嘴下移，压紧所述滤膜，零气和待测气体选择性地进入采样管；颗粒物是否达到阈值的判断方式为：分别获得采样气路中滤膜上游和下游的压力，判断上游和下游压力差是否大于阈值；或者，判断所述探测器输出的计数值是否低于阈值；在所述滤膜富集待测气体中颗粒物的同时，放射源发出的β射线穿过富集有颗粒物的滤膜，探测器计数，获得时间段[T1,T2]内与多个时间点ti分别对应的计数值Ai，i=1,2…M，获得计数值Ai与时间点ti的映射关系A=ft；根据所述映射关系计算得到时间段[T1,T2]内任意二个时间点t1ˊ、t2ˊ处的计数值A1ˊ、A2ˊ，根据计数值A1ˊ、A2ˊ以及时间点t1ˊ、t2ˊ间待测气体体积，得到时间点t1ˊ、t2ˊ间待测气体中颗粒物含量。

全文数据：

权利要求：

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