申请/专利权人：合肥伊莱克仪器设备有限公司

申请日：2023-06-15

公开（公告）日：2024-04-09

公开（公告）号：CN220751078U

主分类号：G01B11/02

分类号：G01B11/02

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.09#授权

摘要：本实用新型涉及于机械设计制造技术领域，且公开了一种线性位移传感器校验装置，包括底座，所述底座的顶部开设有滑槽，所述滑槽的侧面固定连接有电机，所述电机的输出轴转动连接有转动杆，所述转动杆的外沿转动连接有滑块，所述滑块的顶部固定连接有挡板，所述挡板的侧面固定连接有夹持块，所述夹持块的侧面开设有夹持槽，所述夹持槽的顶部和侧面螺纹连接有螺纹杆。该线性位移传感器校验装置，通过底座和滑槽的配合使用，同时利用电机使得可以带动转动杆进行转动，从而便于对滑块的位置进行移动，通过挡板和夹持块地配合，利用夹持槽使得便于放置测量物，通过螺纹杆和固定板从而对测量物进行固定，从而便于对装置进行使用。

主权项：1.一种线性位移传感器校验装置，包括底座1，其特征在于：所述底座1的顶部开设有滑槽2，所述滑槽2的侧面固定连接有电机3，所述电机3的输出轴转动连接有转动杆4，所述转动杆4的外沿转动连接有滑块5，所述滑块5的顶部固定连接有挡板6，所述挡板6的侧面固定连接有夹持块7，所述夹持块7的侧面开设有夹持槽8，所述夹持槽8的顶部和侧面螺纹连接有螺纹杆9，所述螺纹杆9的底部固定连接有固定板10。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 合肥伊莱克仪器设备有限公司 一种线性位移传感器校验装置

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