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【发明公布】一种便于监控及测量内层层偏的方法_奥士康科技股份有限公司_202311823201.7 

申请/专利权人:奥士康科技股份有限公司

申请日:2023-12-27

公开(公告)日:2024-04-05

公开(公告)号:CN117824479A

主分类号:G01B7/02

分类号:G01B7/02;H05K3/00;G01R31/54

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.04.23#实质审查的生效;2024.04.05#公开

摘要:本发明公开了一种便于监控及测量内层层偏的方法,属于PCB加工技术领域,其技术要点是:包括以下步骤:步骤一:设置内外层接地测试PTH孔,设置独立测试点PTH孔,设置定位孔NPTH孔,步骤二:将万用表的一端通过内外层接地测试PTH的孔接地,万用表的另一端连接焊点;步骤三:监测万用表显示电阻,万用表电阻无穷大则表示为开路,具有解决PCB层间偏移的数据获取,避免大量的人工切片及人工测量数据的优点。

主权项:1.一种便于监控及测量内层层偏的方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤一:设置内外层接地测试PTH孔,设置独立测试点PTH孔,设置定位孔NPTH孔,步骤二:将万用表的一端通过内外层接地测试PTH的孔接地,万用表的另一端连接焊点;步骤三:监测万用表显示电阻,万用表电阻无穷大则表示为开路。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 奥士康科技股份有限公司 一种便于监控及测量内层层偏的方法

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