申请/专利权人：上海天链轨道交通检测技术有限公司

申请日：2022-03-02

公开（公告）日：2024-04-05

公开（公告）号：CN114909990B

主分类号：G01B11/00

分类号：G01B11/00;G01B11/24;B60M1/28;G01N21/88

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.05#授权;2022.09.02#实质审查的生效;2022.08.16#公开

摘要：本发明提供一种车载非接触式的接触线磨耗测量方法、装置与系统。本发明通过获取接触线底部轮廓曲线图片并根据图片中接触线亮斑的位置，得到接触线的拉出值OffsetX后以[OffsetX‑rangeX,OffsetX+rangeX]对接触线底部轮廓曲线图片进行缩小窗口范围的操作；判断所述接触线底部轮廓曲线图片中接触线底面轮廓的左右边界并计算接触线在该图片中所占据的像素数；通过像素数计算对应的实际磨耗值大小并进行保存。本发明可以在运营过程中对列车状态进行在线非接触式监测并针对磨损较大的接触线发出报警记录磨耗值大小和位置信息，从而减少人工的测量且高效的得出数值并找到缺陷。

主权项：1.一种车载非接触式的接触线磨耗测量方法，其特征在于，包括：获取接触线底部轮廓曲线图片，其中，所述接触线底部轮廓曲线通过线激光器照射在接触线上形成一条接触线轮廓曲线后由镜头前加装808nm滤光片的高清面阵相机获取；根据接触线底部轮廓曲线图片中接触线亮斑的位置，得到接触线的拉出值OffsetX；根据接触线底部轮廓曲线图片结合灰度图，求取占灰度图分布80%以上的灰度值，并求取平均灰度值Ave，作为背景灰度值；根据所述接触线的拉出值OffsetX，以[OffsetX-rangeX,OffsetX+rangeX]对所述接触线底部轮廓曲线图片进行缩小窗口范围的操作；判断所述接触线底部轮廓曲线图片中接触线底面轮廓的左右边界；通过接触线底面轮廓的左右边界计算接触线在该图片中所占据的像素数；通过像素数计算对应的实际磨耗值大小并进行保存；获取接触线底部轮廓曲线图片，其中，所述接触线底部轮廓曲线通过线激光器照射在接触线上形成一条接触线轮廓曲线后由镜头前加装808nm滤光片的高清面阵相机获取的步骤中，选用808nm不可见光；根据接触线底部轮廓曲线图片中接触线亮斑的位置，得到接触线的拉出值OffsetX，包括：首先线激光器照射在接触线上形成一个短弧亮区；然后通过高速面阵相机采集拍摄所呈现的接触线短弧亮区图片，结合模板匹配，计算得到短弧亮区的像素坐标位置；最后借助棋盘格标定板，求取物理坐标值和像素坐标值的矩阵关系，并完成短弧亮区的像素坐标与空间物理坐标的转换；根据所述接触线的拉出值OffsetX，以[OffsetX-rangeX,OffsetX+rangeX]对所述接触线底部轮廓曲线图片进行缩小窗口范围的操作的步骤中，所述RangeX对应为准确识别接触线轮廓所需的视角窗口的大小；设置RangeX的目的是将视角窗口集中到全幅图片的某一块区域；判断所述接触线底部轮廓曲线图片中接触线底面轮廓的左右边界，包括：方法之一为：依据面阵相机图片计算得到的背景灰度值Ave，如果连续5个中心点像素坐标为X1的像素点灰度值均保持在Ave，而右侧5个中心点像素坐标为X2的像素点均高于Ave，则中心像素点X2即为接触线底面轮廓的左边界；如果连续5个中心点像素坐标为X1的像素点灰度值均保持在Ave，而左侧5个中心点像素坐标为X3的连续像素点均高于Ave，则中心像素点X3即为接触线底面轮廓的右边界；方法之二为，如果连续5个中心点像素坐标为X1的像素点灰度值高于Ave，而且右侧5个中心点像素坐标为X2的连续点的灰度值比X1的灰度值均高，而且偏差大于ΔA，则中心像素点X2即为接触线底面轮廓的左边界；如果连续5个中心点像素坐标为X1的像素点灰度值高于Ave，而且左侧5个中心点像素坐标为X3的连续点的灰度值比X1的灰度值均高，而且偏差大于ΔA，则中心像素点X3即为接触线底面轮廓的右边界；接触线磨损区域的亮度高，灰度值为255，设置所述ΔA取100~150。

全文数据：

权利要求：

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