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【发明公布】圆极化辐射器增益测试方法_江苏万邦微电子有限公司_202410050634.1 

申请/专利权人:江苏万邦微电子有限公司

申请日:2024-01-12

公开(公告)日:2024-04-12

公开(公告)号:CN117879733A

主分类号:H04B17/327

分类号:H04B17/327;H04B17/15;H04B17/29;H04B17/00

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.04.30#实质审查的生效;2024.04.12#公开

摘要:本发明公开一种圆极化辐射器增益测试方法,包括:10测试系统布置:将待测辐射器与标准增益天线、辅助天线均置于微波暗室内;20测试环境标校:利用标准增益天线作为发射端,获取对应频点标校接收功率;30辐射器实测接收功率获取:以待测辐射器替代标准增益天线作为发射端,获取对应频点实测接收功率;40法向角增益计算:根据标校功率和实测功率,计算对应频点的增益;50方向图扫描:旋转待测辐射器,同步采集得到方向图;60数据滤波:对方向图扫描数据进行限幅滤波;70数据拟合:采用加权移动平均进行数据拟合,得到待测辐射器各方向角增益。本发明的增益测试方法,外界干扰小,测试结果稳定可靠。

主权项:1.一种圆极化辐射器增益测试方法,其特征在于,包括如下步骤:10测试系统布置:将待测辐射器与标准增益天线、辅助天线均置于微波暗室内;所述待测辐射器和标准增益天线均与信号源发生器信号连接,所述辅助天线与频谱分析仪信号连接,待测天线辐射器与标准增益天线均与辅助天线信号相连;20测试环境标校:利用标准增益天线作为发射端,辅助天线作为接收端,获取对应频点水平极化标校接收功率和垂直极化标校接收功率;30辐射器实测接收功率获取:以待测辐射器替代标准增益天线作为发射端,辅助天线作为接收端,获取对应频点水平极化实测接收功率和垂直极化实测接收功率;40法向角增益计算:根据对应频点的标准增益天线增益、水平极化标校接收功率、垂直极化标校接收功率、水平极化实测接收功率和垂直极化实测接收功率,计算得到待测辐射器对应频点的增益;50方向图扫描:在XOZ方向和XOY方向旋转待测辐射器期间,频谱分析仪同步采集,得到待测辐射器的E面方向图和H面方向图;60数据滤波:采用限幅滤波方法对方向图扫描数据进行滤波处理;70数据拟合:采用加权移动平均的拟合方法对滤波处理后的方向图扫描数据进行拟合,得到待测辐射器在各个方向角的增益。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 江苏万邦微电子有限公司 圆极化辐射器增益测试方法

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