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【发明公布】一种用于测试多光轴平行性的检测设备与方法_南京英田光学工程股份有限公司_202410281945.9 

申请/专利权人:南京英田光学工程股份有限公司

申请日:2024-03-13

公开(公告)日:2024-04-12

公开(公告)号:CN117871058A

主分类号:G01M11/02

分类号:G01M11/02

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.04.30#实质审查的生效;2024.04.12#公开

摘要:本发明公开了一种用于测试多光轴平行性的检测设备与方法,该检测设备包括光轴测角模块、一维导轨、五棱镜、滚转角测试模块;其中,所述滚转角测试模块由滚转角测试模块A部分和滚转角测试模块B部分组成,滚转角测试模块A部分通过机械结构与五棱镜固连且二者共同沿一维导轨移动;滚转角测试模块B部分通过机械结构与光轴测角模块固连,两者在测试过程中固定;光轴测角模块的光轴与滚转角测试模块的光轴平行;光轴测角模块的光轴与五棱镜的其中一个直角面垂直;待测设备的多个光学支路中的至少两个支路光轴与五棱镜的另一个直角面垂直。该设备可用于对光电仪器设备和军用光学设备进行多光轴平行性检测,检测方法自身具有良好的环境适应性等优势。

主权项:1.一种用于测试多光轴平行性的检测设备,其特征在于,该检测设备包括光轴测角模块、一维导轨、五棱镜、滚转角测试模块;其中,所述滚转角测试模块由滚转角测试模块A部分和滚转角测试模块B部分组成,滚转角测试模块A部分通过机械结构与五棱镜固连且二者共同沿一维导轨移动;滚转角测试模块B部分通过机械结构与光轴测角模块固连,两者在测试过程中固定;光轴测角模块的光轴与滚转角测试模块的光轴平行;光轴测角模块的光轴与五棱镜的其中一个直角面垂直;待测设备的多个光学支路中的至少两个支路光轴与五棱镜的另一个直角面垂直。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 南京英田光学工程股份有限公司 一种用于测试多光轴平行性的检测设备与方法

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