申请/专利权人：艾沛克斯品牌公司

申请日：2023-09-27

公开（公告）日：2024-04-12

公开（公告）号：CN117870491A

主分类号：G01B3/1003

分类号：G01B3/1003;G01B3/1056

优先权：["20221010 US 63/414,712"]

专利状态码：在审-公开

法律状态：2024.04.12#公开

摘要：该测量卷尺装置可以包括：壳体，其可以具有孔；卷轴组件；尺身，其可以具有第一端和第二端，该第一端可以从壳体延伸穿过孔，该第二端缠绕在卷轴组件上；以及端钩，其可以布置在尺身的第一端。端钩可具有背对孔的正面和面向孔的背面。包括激光蚀刻的高摩擦表面可以布置在背面的至少一部分上。

主权项：1.一种测量卷尺装置，包括：具有孔的壳体；卷轴组件；尺身，所述尺身具有第一端和第二端，所述第一端被构造成从所述壳体延伸穿过所述孔，所述第二端被构造成缠绕在所述卷轴组件上；以及端钩，所述端钩布置在所述尺身的所述第一端处，所述端钩具有背对所述孔的正面和面向所述孔的背面，其中包括激光蚀刻的高摩擦表面布置在所述端钩的至少一部分上。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 艾沛克斯品牌公司 具有激光蚀刻的高摩擦表面的端钩的测量卷尺

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