申请/专利权人：北京图森智途科技有限公司

申请日：2019-08-02

公开（公告）日：2024-04-12

公开（公告）号：CN112308105B

主分类号：G06V10/25

分类号：G06V10/25;G06V10/764;G06V10/82;G06N3/0464

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.12#授权;2021.02.23#实质审查的生效;2021.02.02#公开

摘要：本发明公开一种目标检测方法、目标检测器及相关设备，以解决现有技术目标检测器分类精度低的问题。本方案提供的目标检测方法在对图像进行特征提取得到特征图之后，并不是直接对该特征图进行分类检测处理，而是针对该特征图中的每个特征点，确定出该特征点的检测框以及该检测框中的特征，并对检测框内特征进行卷积得到该特征点的新特征值，通过该种方式使得对该特征点进行卷积的卷积范围特征与该特征点对应的检测框特征能够对齐，而特征点对应的检测框中的特征能够更加精准的表达特征点的特征，通过该种方式能够使得更新后的特征图表达的特征更加精准，从而基于该新的特征图进行分类检测的结果也更加精准，从而提高了目标检测器的分类和检测的精度。

主权项：1.一种目标检测方法，其特征在于，包括：对接收到的图像进行特征提取，得到与所述图像对应的特征图；对所述特征图中每个特征点进行以下处理步骤得到所述图像对应的新特征图：确定特征点的检测框；根据预置卷积核和所述检测框确定出卷积采样点组；采用所述卷积核对所述卷积采样点组进行卷积得到所述特征点的新特征值；将新特征值替换所述特征点的原特征值；对所述新特征图进行分类和检测，得到所述图像对应的目标检测结果，其中，所述根据预置卷积核和所述检测框确定出所述卷积采样点组，包括：根据所述卷积核的尺寸将所述检测框均匀划分成多个区域，将各区域的中心点确定为所述卷积采样点组中的各卷积采样点，并计算各卷积采样点的坐标；其中，所述采用所述卷积核对所述卷积采样点组进行卷积得到所述特征点的新特征值，包括：根据所述卷积核在所述特征图中确定出对所述特征点进行卷积的第二卷积采样点组；计算所述卷积采样点组中各卷积采样点分别与所述第二卷积采样点组中相应卷积采样点之间的坐标偏移量，并将所述坐标偏移量传输给可变形卷积的调用接口；通过调用所述可变形卷积对所述检测框的特征进行卷积计算，得到所述特征点的所述新特征值。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 北京图森智途科技有限公司 目标检测方法、目标检测器及相关设备

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