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【发明授权】传感器方法和系统的稳定测量_美国亚德诺半导体公司_202010151441.7 

申请/专利权人:美国亚德诺半导体公司

申请日:2020-03-06

公开(公告)日:2024-04-12

公开(公告)号:CN111665200B

主分类号:G01N21/25

分类号:G01N21/25;G01N21/41;G01N21/59;G01N21/47;G01N21/31

优先权:["20190306 US 62/814,291","20190610 US 62/859,276","20191201 US 16/699,677","20200217 US 16/792,596"]

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.04.12#授权;2020.10.13#实质审查的生效;2020.09.15#公开

摘要:本公开涉及传感器方法和系统的稳定测量。本公开提供了增益独立参考信道测量系统和方法。公开在各种不同应用中进行鲁棒、稳定的测量的方法。更具体地,本公开描述与通过进行被测装置的两个相位测量来执行增益独立参考信道测量有关的系统和方法。从数学上讲,测量是合并在一起的,并且许多共模参数会丢失。结果产生对被测装置分析的分析,该分析减少主要由于环境变化和信号输入波动引起的电路行为变化而引起的误差。

主权项:1.一种用于进行增益独立参考信道测量的设备,该设备包括:第一电路,被配置为测量通过测试对象的刺激;第一放大器;第二电路,被配置为测量未通过测试体积的刺激;第二放大器;和与所述第一电路、所述第二电路、所述第一放大器和所述第二放大器电通信的开关电路,所述开关电路被配置为在以下电路之间进行改变:第一模式,其中所述第一电路与所述第一放大器电通信并且所述第二电路与所述第二放大器电通信;和第二模式,其中所述第一电路与所述第二放大器电通信并且所述第二电路与所述第一放大器电通信。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 美国亚德诺半导体公司 传感器方法和系统的稳定测量

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