申请/专利权人：长沙理工大学

申请日：2021-10-08

公开（公告）日：2024-04-12

公开（公告）号：CN113899919B

主分类号：G01Q30/20

分类号：G01Q30/20;G01Q30/02

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.12#授权;2022.01.25#实质审查的生效;2022.01.07#公开

摘要：本发明公开了一种利用扫描电镜观察含LPSO相镁合金位错滑移迹线的方法，其特征在于，包括以下步骤：1、将含LPSO相的镁合金加工成片状拉伸试样；2、将拉伸试样的中部板面进行机械研磨；3、对研磨后的拉伸试样的中部板面进行电解抛光；4、对电解抛光后的拉伸试样进行拉伸试验，将拉伸试样拉断；5、利用扫描电镜观察拉伸试样平行于拉伸方向的板面。本发明制样设备相对简单、常见且成本低廉；电解抛光方法操作便捷、效果稳定，所用的电解抛光液组分简单、原料来源广泛、抛光质量好、普适性高；通过采用本发明方法，可达到更加方便、快捷地观测含LPSO相镁合金受载后的位错滑移迹线的目的。

主权项：1.一种利用扫描电镜观察含LPSO相镁合金位错滑移迹线的方法，其特征在于，包括以下步骤：1）、将含LPSO相的镁合金加工成片状拉伸试样；2）、将拉伸试样的中部板面进行机械研磨；3）、对研磨后的拉伸试样的中部板面进行电解抛光；4）、对电解抛光后的拉伸试样进行拉伸试验，将拉伸试样拉断；5）、利用扫描电镜观察拉伸试样平行于拉伸方向的板面；通过观察LPSO相的排布来判断Mg基体的位相，观察Mg基体的基面或非基面滑移线；所述步骤3）中，在进行电解抛光时，将拉伸试样的两端利用胶带包裹，未被包裹的板面部分为抛光面；所述步骤3）中的电解抛光液按体积份数配比为：无水乙醇1000ml、高氯酸10~30ml、硝酸10~30ml，其中，高氯酸和硝酸的总含量为35-45ml；电解抛光采用直流电压15-25V，移动阴极和阳极之间的间距控制电流数值为抛光面面积的13至3倍，抛光时间为60-120s，电流数值的单位为mA，抛光面面积的单位为mm2。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 长沙理工大学 一种利用扫描电镜观察含LPSO相镁合金位错滑移迹线的方法

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