申请/专利权人：中国科学院上海高等研究院

申请日：2024-01-31

公开（公告）日：2024-04-12

公开（公告）号：CN117664324B

主分类号：G01J1/44

分类号：G01J1/44;G01J1/04;G01J1/02;G01J1/08

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.12#授权;2024.03.26#实质审查的生效;2024.03.08#公开

摘要：本发明提供一种在线X光光强实时高速监测系统，包括与光源共同位于第一光轴上的一卡光狭缝、一样品实验装置和一透射光PMT光子计数器，偏离所述第一光轴且对准所述卡光狭缝的面向所述光源的一侧的一反射光PMT光子计数器，与透射光PMT光子计数器和反射光PMT光子计数器均相连的一FPGA触发采集板，以及与FPGA触发采集板连接的一上位机。本发明采用PMT光子计数器与FPGA触发采集板相结合，实现了前后端光强探测器的同步触发采集，大大提升了光强监测数据的同步性；通过同步触发可以使用反射光光子计数器触发得到的上游光强对透射光光子计数器触发得到的下游光强进行归一化，有效的降低了由于光强变化对实验造成的影响。

主权项：1.一种在线X光光强实时高速监测系统，其特征在于，包括与光源共同位于第一光轴上的一卡光狭缝、一样品实验装置和一透射光PMT光子计数器，偏离所述第一光轴且对准所述卡光狭缝的面向所述光源的一侧的一反射光PMT光子计数器，与透射光PMT光子计数器和所述反射光PMT光子计数器均相连的一FPGA触发采集板，以及与所述FPGA触发采集板连接的一上位机；所述卡光狭缝在其面向所述光源的一侧设有一YAG发光装置，所述YAG发光装置通过其YAG晶体将打在所述卡光狭缝的开口以外的位置的X射线转化为可见光并反射，以作为所述反射光PMT光子计数器的YAG晶体；所述YAG发光装置放置在靠近所述卡光狭缝的开口且不阻挡该开口的位置，从而使YAG发光装置被X射线覆盖且不阻挡X射线；反射光PMT光子计数器的光子源于被卡光狭缝所舍弃的部分X射线，打在卡光狭缝上方的YAG发光装置处，YAG发光装置吸收这部分X射线，并发射出可见光。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中国科学院上海高等研究院 一种在线X光光强实时高速监测系统

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