申请/专利权人：中国空间技术研究院

申请日：2020-04-27

公开（公告）日：2024-04-12

公开（公告）号：CN111652844B

主分类号：G06T7/00

分类号：G06T7/00;G06T7/10;G06T7/13;G06T7/73;G06T3/60;G06T3/4007;G06T5/70

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.12#授权;2020.10.13#实质审查的生效;2020.09.11#公开

摘要：本发明公开了一种基于数字图像区域增长的X射线缺陷检测方法，所述方法包括如下步骤：对元器件图像中的外部阴影进行滤波处理得到阴影滤波后的图像；对阴影滤波后的图像采用基于灰度投影积分的边缘检测方法得到阴影滤波后的图像中元器件的倾斜角度，对阴影滤波后的图像进行空间坐标变换得到旋转校正后的元器件图像；将旋转校正后的元器件图像通过双三次内插算法得到统一尺寸的图像；对统一尺寸的图像采用归一化互相关的匹配算法得到模板匹配的图像；采用区域生长算法的对模板匹配的图像进行图像分割得到元器件的缺陷位置。本发明解决了当前的X射线检测试验效率较低，人员劳动强度大的问题。

主权项：1.一种基于数字图像区域增长的X射线缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：步骤S1：采用图像预处理算法以及小波变换对元器件图像中的外部阴影进行滤波处理得到阴影滤波后的图像；步骤S2：对步骤S1中的阴影滤波后的图像采用基于灰度投影积分的边缘检测方法进行边缘检测得到阴影滤波后的图像中元器件的倾斜角度，通过双线性内插的方法对阴影滤波后的图像进行空间坐标变换得到旋转校正后的元器件图像；将旋转校正后的元器件图像通过双三次内插算法得到统一尺寸的图像；步骤S3：对步骤S2中的统一尺寸的图像采用归一化互相关的匹配算法得到模板匹配的图像；步骤S4：采用区域生长算法的对步骤S3中的模板匹配的图像进行图像分割得到元器件的缺陷位置；在步骤S3中，对步骤S2中的统一尺寸的图像采用归一化互相关的匹配算法得到模板匹配的图像包括如下步骤：采用归一化互相关的匹配算法，从统一尺寸的图像的原点开始，获取一个和模板图像一样大小的子图，计算它们的相关系数，并将模板图像自左至右、自上至下在统一尺寸的图像中顺序滑动，依次遍历统一尺寸的图像，计算出所有的相关系数，当相关系数取最大值时，则对应的位置为最佳匹配位置，从而得到模板匹配的图像；在步骤S4中，区域生长算法包括如下步骤：1对模板匹配的图像按照从左至右、从上至下的顺序扫描，对首个没有归属的像素点进行标记，记为种子点；2根据种子点的8邻域，计算种子像素与所考虑的像素之间的灰度值差值，如果其绝对值比设定的阈值小,则将所考虑的像素包括进种子像素所在的区域；3以新加入的像素作为种子点，返回步骤2，直到区域生长停止。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中国空间技术研究院 一种基于数字图像区域增长的X射线缺陷检测方法及系统

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