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【发明授权】用于检测对产品的篡改的系统和方法_恩智浦有限公司_201910830631.9 

申请/专利权人:恩智浦有限公司

申请日:2019-09-02

公开(公告)日:2024-04-23

公开(公告)号:CN110879346B

主分类号:G01R31/28

分类号:G01R31/28

优先权:["20180906 EP 18192899.5"]

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.04.23#授权;2021.09.21#实质审查的生效;2020.03.13#公开

摘要:根据本公开的第一方面,提供一种用于检测对产品的篡改的系统,所述系统包括:电容器,其包括于所述产品中或附接到所述产品;集成电路,其被配置成在所述电容器中注入电流并检测所述电容器上的对应电压斜率;其中所述集成电路被进一步配置成将所述电压斜率划分成多个斜率段;其中所述集成电路被进一步配置成舍弃第一组斜率段,所述第一组斜率段的斜率值落在预定义斜率值范围外;其中所述集成电路被进一步配置成使用第二组斜率段来确定所述电容器上的电容,所述第二组斜率段的斜率值落入所述预定义范围内。根据本公开的第二方面,构想一种检测对产品的篡改的对应方法。根据本公开的第三方面,提供一种对应的计算机程序。

主权项:1.一种用于检测对产品的篡改的系统,其特征在于,所述系统包括:电容器,其包括于所述产品中或附接到所述产品;集成电路,其被配置成在所述电容器中注入电流并检测所述电容器上的对应电压斜率;其中所述集成电路被进一步配置成将所述电压斜率划分成多个斜率段;其中所述集成电路被进一步配置成舍弃第一组斜率段,所述第一组斜率段的斜率值落在预定义斜率值范围外;其中所述集成电路被进一步配置成使用第二组斜率段来确定所述电容器上的电容,所述第二组斜率段的斜率值落入所述预定义范围内,所述集成电路被进一步配置成仅使用所述第二组中的具有大体上相同的斜率值的那些斜率段来确定所述电容器上的所述电容。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 恩智浦有限公司 用于检测对产品的篡改的系统和方法

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