申请/专利权人：江苏权正检验检测有限公司

申请日：2023-10-31

公开（公告）日：2024-04-23

公开（公告）号：CN117138934B

主分类号：B02C25/00

分类号：B02C25/00;G01N1/28;G01N15/02;G01N33/02

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.23#授权;2023.12.19#实质审查的生效;2023.12.01#公开

摘要：本发明公开了一种食品检测用的研磨方法及控制系统，应用于数据处理技术领域，该方法包括：通过获取待研磨样品的研磨特征，获取待研磨样品用于进行检测的目标研磨粒度，并根据研磨粒度设置中间研磨粒度。将研磨特征和中间研磨粒度输入研磨控制系统中进行控制，研磨装置包括上研磨槽和下研磨槽，且上研磨槽和下研磨槽间包括可拆卸滤网。根据研磨控制系统进行研磨参数识别，获取第一研磨参数和第二研磨参数，第一研磨参数为上研磨槽的研磨参数，第二研磨参数为下研磨槽的研磨参数。根据第一研磨参数和第二研磨参数进行研磨控制。解决了现有技术中食品研磨方法存在研磨效果较差，研磨均匀性低的技术问题。

主权项：1.一种食品检测用的研磨方法，其特征在于，所述方法包括：获取待研磨样品的研磨特征，其中，所述研磨特征包括样品粒度和样品硬度；获取所述待研磨样品用于进行检测的目标研磨粒度，并根据所述研磨粒度设置中间研磨粒度；将所述研磨特征和所述中间研磨粒度输入研磨控制系统中，所述研磨控制系统用于连接电机驱动模块对研磨装置的研磨件进行控制，所述研磨装置包括上研磨槽和下研磨槽，且所述上研磨槽和所述下研磨槽间包括可拆卸滤网；根据所述研磨控制系统进行研磨参数识别，获取第一研磨参数和第二研磨参数，所述第一研磨参数为所述上研磨槽的研磨参数，所述第二研磨参数为所述下研磨槽的研磨参数；根据所述第一研磨参数和所述第二研磨参数进行研磨控制；根据所述研磨控制系统进行研磨参数识别，获取第一研磨参数和第二研磨参数，方法还包括：将所述研磨特征和所述中间研磨粒度输入所述研磨控制系统中，所述研磨控制系统包括第一研磨控制层和第二研磨控制层；根据所述第一研磨控制层，以所述样品粒度和所述中间研磨粒度的粒度差作为所述上研磨槽的输入变量，以所述样品硬度为输入定量进行训练，获取所述第一研磨参数；根据所述第二研磨控制层，以所述中间研磨粒度和所述目标研磨粒度的粒度差作为所述下研磨槽的输入变量，以所述样品硬度为输入定量进行训练，获取所述第二研磨参数；所述方法还包括：获取所述待研磨样品的粒度-研磨难度的变化曲线；以所述中间研磨粒度对所述粒度-研磨难度的变化曲线进行标识，获取所述样品粒度和所述中间研磨粒度的第一曲线，以及所述中间研磨粒度和所述目标研磨粒度的第二曲线；根据所述第一曲线和所述第二曲线的斜率，配置所述第一研磨控制层和所述第二研磨控制层的训练权重；所述方法还包括：判断所述第一曲线和所述第二曲线的斜率差是否大于预设斜率差，若所述第一曲线和所述第二曲线的斜率差大于所述预设斜率差，根据所述第一曲线和所述第二曲线的斜率差，配置所述第一研磨控制层和所述第二研磨控制层的训练权重，表达式如下： 其中，为基于所述待研磨样品所述第二研磨控制层的训练权重，为所述第一研磨控制层的训练权重，为所述第一曲线和所述第二曲线的斜率差；所述方法还包括：通过对所述粒度-研磨难度的变化曲线上的各个节点的变化速率，根据所述变化速率进行标识，获取变化速率小于等于预设变化速率的标识节点集；获取所述标识节点集中下降梯度差值最大的节点，得到所述中间研磨粒度。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 江苏权正检验检测有限公司 一种食品检测用的研磨方法及控制系统

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