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【发明授权】用于基于像素测序的表征和性能分析的系统和设备_因美纳有限公司_202080003540.9 

申请/专利权人:因美纳有限公司

申请日:2020-05-15

公开(公告)日:2024-04-16

公开(公告)号:CN112368567B

主分类号:G01N21/64

分类号:G01N21/64;C12Q1/6874;G16B30/00;G16B40/10;G06N3/0464;G06N3/084

优先权:["20190516 US 62/849091","20190516 US 62/849132","20190516 US 62/849133","20200514 US 16/874599","20200514 US 16/874633"]

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.04.16#授权;2022.05.31#实质审查的生效;2021.02.12#公开

摘要:公开了一种根据测量强度确定标记信号的方法,该测量强度是由光传感器在指向样本表面234的传感器阵列中收集的光传感器206、208、210、212、214收集的,该样本表面234包括像素区域206’、208’、210’、212’、214’并在一系列采样事件期间容纳多个簇206A、206、208A、208B、210A、210B、212A、212B、214A、214B,每个光传感器206、208、210、212、214在每个采样周期期间指向所述像素区域206’、208’、210’、212’、214’中的一个并测量来自所述像素区域中的一个的强度,该方法包括对背景强度675和串扰645的调整,并考虑了信号衰减625和定相623预定相。通过由系统进行真值碱基调用或使用经系统运行的良好采样的可靠碱基调用,调整系数可以通过梯度下降来确定。

主权项:1.一种根据测定强度确定标记信号的由计算机实现的方法,所述测定强度由指向样本表面的传感器阵列中的光传感器收集,所述样本表面包括像素区域并在一系列采样事件期间容纳多个簇,每个光传感器在每个采样周期期间指向所述像素区域中的一个并测量来自所述像素区域中的一个的强度,所述由计算机实现的方法包括:通过将串扰估计值应用于各个采样周期中相邻像素的测定强度,确定针对来自所述相邻像素的串扰对采样周期中来自一个像素的测定强度进行的调整;在逐像素的基础上,通过去除与像素相关联的最小背景水平的一部分,确定针对背景强度对采样周期中来自所述像素的测定强度进行的进一步调整;以及确定在采样周期中源自所述像素的标记信号,考虑对所述测定强度进行的调整和进一步调整,结合至少修改所述测定强度以考虑所述系列采样事件的进程中的信号衰减,并用于定相和预定相,包括:通过渐进衰减函数修改采样周期中的测定强度,所述渐进衰减函数考虑了所述系列采样事件中每个采样周期多晚出现;以及将分布函数应用于至少当前、先前和后续的测定强度,在采样周期中使用所述像素的信号存在真值,并将由于定相和预定相导致的强度影响与当前标记信号对当前的测定强度的影响分开。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 因美纳有限公司 用于基于像素测序的表征和性能分析的系统和设备

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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解,仅供参考使用,不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。