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【发明授权】一种抓框图像的优化方法及装置_昆山丘钛微电子科技股份有限公司_202110545453.2 

申请/专利权人:昆山丘钛微电子科技股份有限公司

申请日:2021-05-19

公开(公告)日:2024-04-16

公开(公告)号:CN113379780B

主分类号:G06F17/00

分类号:G06F17/00

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.04.16#授权;2021.09.28#实质审查的生效;2021.09.10#公开

摘要:本发明公开了一种抓框图像的优化方法及装置,其中方法通过获取摄像头模组对模板图像成像的第一图像;然后基于第一图像中的封闭区域,确定优化阈值;基于优化阈值,从封闭区域中确定出异常区域。通过封闭区域来确定优化阈值能够有效的考虑到所有的正常棋盘格和由破损或脏点产生的异常区域,并且可准确的对异常区域进行区分。最后,修复异常区域,获得第二图像。本发明修复后得到的第二图像就可在抓框操作时消除异常区域对抓框对象边线的跳变影响,避免了抓框边界的误认,提高了抓框和计算SFR分值的准确性。

主权项:1.一种抓框图像的优化方法,其特征在于,包括:获取摄像头模组对模板图像成像的第一图像;基于所述第一图像中的封闭区域,确定优化阈值;基于所述优化阈值,从所述封闭区域中确定出异常区域;修复所述异常区域,获得第二图像;所述基于所述第一图像中的封闭区域,确定优化阈值,包括:获取所述封闭区域的数量特征;其中,所述数量特征表示所述第一图像中不同类型的所述封闭区域的数量,所述不同类型包括不同面积大小和或不同轮廓长度;基于所述数量特征,确定优化阈值,包括:基于所述第一图像中每个所述封闭区域的参数大小,获取分布数量最多的目标参数区间;获取所述目标参数区间对应的多个第一目标封闭区域;基于所述多个第一目标封闭区域的参数,确定所述优化阈值。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 昆山丘钛微电子科技股份有限公司 一种抓框图像的优化方法及装置

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